烟台大学硕士学位论文半导体发光材料的光学特性表征及分析姓名:郑大宇申请学位级别:硕士专业:光学指导教师:孙元平20080531半导体发光材料正以飞快的速度影响着当今世界的众多领域,医学、国防及人类生活的方方面面都需要更加高质量的发光材料来满足人类的需要,所以对半导体...
中国硕士学位论文全文数据库.前10条.1.南矿军;半导体激光器性能表征及脉冲测量技术研究[D];中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所);2002年.2.高扬;半导体激光器噪声测试系统的研究[D];吉林大学;2005年.3.曹兰兰;基于半导体激光器干涉测量...
半导体电学特性四探针测试技术的研究现状.摘要:四探针法是材料学及半导体行业电学表征较常用的方法,其原理简单,能消除接触电阻影响,具有较高的测试精度。.由厚块原理和薄层原理推导出计算公式,并经厚度、边缘效应和测试温度的修正即可得到精确测量...
最新博士论文—《二维材料的、表征及其电学性能的研究》摘要第1-7页Abstract第7-14页第1章绪论第14-47页1.1前言第14-15页1.2二维层状材料概述
除了IV特性之外,PL谱、EL谱、Abs谱也可以得到材料的光学性能。.光电性能的测试手段有很多种,有的以材料的带系为结果来源,还有的以材料中缺陷浓度、电子迁移率等表征材料的电学性能。.具体要看你要研究的方向.打比方是太阳能薄膜电池,要想得到好的...
半导体材料(semiconductormaterial)是一类具有半导体性能(导电能力介于导体与绝缘体之间,电阻率约在1mcm~1Gcm范围内)、可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料。那么关于半导体材料领域有哪些sci杂志呢?《SEMICONDUCTOR...
太赫兹(THz,1THz=1012Hz)波段是指频率从100GHz到10THz,相应的波长从3毫米到30微米,介于毫米波与红外光之间频谱范围相当宽的电磁波谱区域。“十三五”期间,中科院太赫兹固态技术重点实验室将面向国民经济主战场,围绕半导体太赫兹固态辐射...
本论文内容主要分为两个部分:(1)新一代半导体器件参数的比例差值谱分析系统(BXT2931B)的研制;(2)90纳米工艺小尺寸器件NBTI在线表征方法的研究。半导体器件测试设备和半导体参数分析设备是半导体领域开展研究工作的基础设备。
优秀硕士论文库—《不同维度的半导体纳米复合材料的、表征及其在催化和检测中的应用研究》摘要第1-6页Abstract第6-11页第一章绪论第11-34页1.1引言第11页1.2纳米材料的
本论文通过采用物理化学方法来几种金属氧化物半导体薄膜,然后再分别测试其光电性质。实验过程用溶胶-凝胶法二氧化锡,氧化锌和二氧化钛及其研究光电性质,用水热法氧化亚铜。
烟台大学硕士学位论文半导体发光材料的光学特性表征及分析姓名:郑大宇申请学位级别:硕士专业:光学指导教师:孙元平20080531半导体发光材料正以飞快的速度影响着当今世界的众多领域,医学、国防及人类生活的方方面面都需要更加高质量的发光材料来满足人类的需要,所以对半导体...
中国硕士学位论文全文数据库.前10条.1.南矿军;半导体激光器性能表征及脉冲测量技术研究[D];中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所);2002年.2.高扬;半导体激光器噪声测试系统的研究[D];吉林大学;2005年.3.曹兰兰;基于半导体激光器干涉测量...
半导体电学特性四探针测试技术的研究现状.摘要:四探针法是材料学及半导体行业电学表征较常用的方法,其原理简单,能消除接触电阻影响,具有较高的测试精度。.由厚块原理和薄层原理推导出计算公式,并经厚度、边缘效应和测试温度的修正即可得到精确测量...
最新博士论文—《二维材料的、表征及其电学性能的研究》摘要第1-7页Abstract第7-14页第1章绪论第14-47页1.1前言第14-15页1.2二维层状材料概述
除了IV特性之外,PL谱、EL谱、Abs谱也可以得到材料的光学性能。.光电性能的测试手段有很多种,有的以材料的带系为结果来源,还有的以材料中缺陷浓度、电子迁移率等表征材料的电学性能。.具体要看你要研究的方向.打比方是太阳能薄膜电池,要想得到好的...
半导体材料(semiconductormaterial)是一类具有半导体性能(导电能力介于导体与绝缘体之间,电阻率约在1mcm~1Gcm范围内)、可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料。那么关于半导体材料领域有哪些sci杂志呢?《SEMICONDUCTOR...
太赫兹(THz,1THz=1012Hz)波段是指频率从100GHz到10THz,相应的波长从3毫米到30微米,介于毫米波与红外光之间频谱范围相当宽的电磁波谱区域。“十三五”期间,中科院太赫兹固态技术重点实验室将面向国民经济主战场,围绕半导体太赫兹固态辐射...
本论文内容主要分为两个部分:(1)新一代半导体器件参数的比例差值谱分析系统(BXT2931B)的研制;(2)90纳米工艺小尺寸器件NBTI在线表征方法的研究。半导体器件测试设备和半导体参数分析设备是半导体领域开展研究工作的基础设备。
优秀硕士论文库—《不同维度的半导体纳米复合材料的、表征及其在催化和检测中的应用研究》摘要第1-6页Abstract第6-11页第一章绪论第11-34页1.1引言第11页1.2纳米材料的
本论文通过采用物理化学方法来几种金属氧化物半导体薄膜,然后再分别测试其光电性质。实验过程用溶胶-凝胶法二氧化锡,氧化锌和二氧化钛及其研究光电性质,用水热法氧化亚铜。