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2005年11月第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术会议珠海基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析（中国科学院微电子研究所杭州分部杭州310053）摘要：介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括功能测试原理，电器特性测试原理以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以具体…
论文首先介绍数字IC自动测试设备的硬件系统设计架构,分析了板级子系统的硬件结构及功能。重点讨论了数字IC自动测试设备中两种关键的测试技术:逻辑功能测试和直流参数测量,在系统分析其工作原理和测试方法的基础上,设计了硬件电路,并通过实验平台分别验证了电路的测试功能。
论文以IC参数测试原理和方法为切入点,构建了基于模块化和自定义总线概念的IC参数自动测试系统框架。在深入分析各个功能模块性能参数的基础上,对其中的关键功能模块：时间测量单元(TimeMeasureUnit,…
可靠性测试与失效分析杨立新可靠性测试与失效分析可靠性基本概念可靠性测试与失效分析前言1.前言质量Quality和可靠性Reliability是IC产品的生命好的品质及使用的耐力是一颗优秀IC产品的竞争力所在在做产品验证时我们往往会遇到三个问题验证什么如何去验证哪里去验证验证后的结果分析(Failure...
集成电路IC的质量与可靠性测试质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命，好的品质，长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所在。在做产品验证时我们往往会遇到三个问题，验证什么，如何去验证，哪里去验证，这就是what,how,where的问题了。
此论文提供了各种IC测试方式的BLRTC失效模式以及失效位置的例子，这些测试方式的设计是寻找上述失效模式以及平面热膨胀系数与水平面翘曲特性的相关性。.BLRTC的测试结果会以韦伯分布格式（WeibullFormat），伴随着横切面以及染色渗透测试的失效分析数据...
一点关于可测性设计的理解1.可测性设计背景(为什么)任何一项技术或岗位的兴起，都对应于业内的需求。而可测性设计的出现就是为了检测到芯片量产过程中出现的带有各种制造缺陷的片子，从而为顾客提供性能更稳定…
基於数字IC测试机架构详细讲解测试理论繁体中文版测试,详细,架构,繁体中文版,测试机,於测试,IC测试机,IC测试,测试基,繁体中文.文档格式：..doc.文档页数：.22页.文档大小：.1.02M.
论文征集:2019年11月30日论文截止时间:2020年9月15日论文结果通知:2020年10月15日2019年12月9日:2020年国际测试委员会智能计算机大会(IC20)论文征集[HTML,PDF]。2019年12月9日:2020年国际测试委员会智能计算机大会(IC20)网站上线。
2005年11月第十四届全国半导体集成电路、硅材料学术会议珠海基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析（中国科学院微电子研究所杭州分部杭州310053）摘要：介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括功能测试原理，电器特性测试原理以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以具体…
论文首先介绍数字IC自动测试设备的硬件系统设计架构,分析了板级子系统的硬件结构及功能。重点讨论了数字IC自动测试设备中两种关键的测试技术:逻辑功能测试和直流参数测量,在系统分析其工作原理和测试方法的基础上,设计了硬件电路,并通过实验平台分别验证了电路的测试功能。
论文以IC参数测试原理和方法为切入点,构建了基于模块化和自定义总线概念的IC参数自动测试系统框架。在深入分析各个功能模块性能参数的基础上,对其中的关键功能模块：时间测量单元(TimeMeasureUnit,…
可靠性测试与失效分析杨立新可靠性测试与失效分析可靠性基本概念可靠性测试与失效分析前言1.前言质量Quality和可靠性Reliability是IC产品的生命好的品质及使用的耐力是一颗优秀IC产品的竞争力所在在做产品验证时我们往往会遇到三个问题验证什么如何去验证哪里去验证验证后的结果分析(Failure...
集成电路IC的质量与可靠性测试质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命，好的品质，长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所在。在做产品验证时我们往往会遇到三个问题，验证什么，如何去验证，哪里去验证，这就是what,how,where的问题了。
此论文提供了各种IC测试方式的BLRTC失效模式以及失效位置的例子，这些测试方式的设计是寻找上述失效模式以及平面热膨胀系数与水平面翘曲特性的相关性。.BLRTC的测试结果会以韦伯分布格式（WeibullFormat），伴随着横切面以及染色渗透测试的失效分析数据...
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论文征集:2019年11月30日论文截止时间:2020年9月15日论文结果通知:2020年10月15日2019年12月9日:2020年国际测试委员会智能计算机大会(IC20)论文征集[HTML,PDF]。2019年12月9日:2020年国际测试委员会智能计算机大会(IC20)网站上线。
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