工艺材料信息杂志

杂志有：

1、《Nature Reviews Materials》《自然评论材料》

2、《Nature Energy》《自然能量》

3、《NATURE MATERIALS》《自然材料》

4、《Nature Nanotechnology》《自然纳米技术》

5、《ADVANCED MATERIALS》《先进材料》

6、《Advanced Energy Materials》《先进能源材料》

7、《Materials Today》《今日材料》

8、《PROGRESS IN MATERIALS SCIENCE》《材料科学进展》

9、《MATERIALS SCIENCE &  ENGINEERING R-REPORTS》《材料科学与工程研究报告》

10、《INTERNATIONAL MATERIALS REVIEWS》《国际材料评论》

AFM：ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS；原子力显微镜

AM：Advanced Materials；先进材料

扩展资料

AFM优点：

原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描，从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。

与常规显微镜比较，原子力显微镜的优点是在大气条件下，以高倍率观察样品表面，可用于几乎所有样品（对表面光洁度有一定要求），而不需要进行其他制样处理，就可以得到样品表面的三维形貌图象。并可对扫描所得的三维形貌图象进行粗糙度计算、厚度、步宽、方框图或颗粒度分析。具体如下：

1、高分辨力能力远远超过扫描电子显微镜（SEM），以及光学粗糙度仪。样品表面的三维数据满足了研究、生产、质量检验越来越微观化的要求。

2、非破坏性，探针与样品表面相互作用力为10－8N以下，远比以往触针式粗糙度仪压力小，因此不会损伤样品，也不存在扫描电子显微镜的电子束损伤问题。另外扫描电子显微镜要求对不导电的样品进行镀膜处理，而原子力显微镜则不需要。

3、应用范围广，可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。

4、软件处理功能强，其三维图象显示其大小、视角、显示色、光泽可以自由设定。并可选用网络、等高线、线条显示。图象处理的宏管理，断面的形状与粗糙度解析，形貌解析等多种功能。

参考资料：百度百科-AFM（原子力显微镜）

ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS , AFM , 影响因子 Advanced Materials , AM , 影响因子

国际上权威杂志及其影响因子排名（仅列前十）：

1、杂志名称：Nature Reviews Materials；译：自然评论材料；影响因子：

2、杂志名称：Nature Energy；译：自然能源；影响因子：54

3、杂志名称：NATURE MATERIALS；译：自然材料；影响因子：

4、杂志名称：Nature Nanotechnology；译：自然纳米技术；影响因子：

5、杂志名称：ADVANCED MATERIALS；译：新材料；影响因子：

6、杂志名称：Advanced Energy Materials；译：先进能源材料；影响因子：

7、杂志名称：Materials Today；译：今日材料；影响因子：

8、杂志名称：PROGRESS IN MATERIALS SCIENCE；译：材料科学进展；影响因子：

9、杂志名称：MATERIALS SCIENCE &  ENGINEERING R-REPORTS；译：材料科学与工程 -报告；影响因子：

10、杂志名称：INTERNATIONAL MATERIALS REVIEWS；译：国际材料评审；影响因子：

AFM全称为：Atomic Force Microscope

AM全称为：Advanced Materials

扩展资料：

AFM的分类：

AFM可分为以下几类：

(1) 接触式﹕利用探针和待测物表面之原子力交互作用(一定要接触)，此作用力(原子间的排斥力)很小，但由于接触面积很小，因此过大的作用力仍会损坏样品，不过较大的作用力可得较佳分辨率，所以选择较适当的作用力便十分的重要。

(2) 非接触式﹕为了解决接触式之AFM 可能破坏样品的缺点，便有非接触式之AFM 被发展出来，这是利用原子间的长距离吸引力来运作，由于探针和样品没有接触，因此样品没有被破坏的问题，不过此力对距离的变化非常小，所以必须使用调变技术来增加讯号对噪声比。

(3) 轻敲式﹕将非接触式AFM 改良，将探针和样品表面距离拉近，增大振福，使探针再振荡至波谷时接触样品由于样品的表面高低起伏，使的振幅改变，再利用接触式的回馈控制方式，便能取得高度影像。

参考资料来源：

百度百科-AFM