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针对硅片检测要实现高速度、高精度和实时性的目标，需采用基于机器视觉技术的硅片检测系统代替人工来完成硅片质量的检测。.根据太阳能硅晶片检测系统的总体功能（表面缺陷检测和颜色检测）需求，进行了系统硬件结构与软件的设计。.硬件部分包括图像...
201711107234.6,一种硅片缺陷检测方法,本发明公开的一种硅片缺陷检测方法，用于检测识别具有微裂纹缺陷的硅片，包括步骤：提供待测硅片；将所述待测硅片置于超声设备中进行超声处理；以及检测前述经超声处理后未破损的待测硅片是否具有微裂纹缺陷。
该太阳能电池片缺陷检测系统检测缺陷的流程，如图1.1所示：图1.1缺陷系统检测步骤（1）收集太阳能电池板图像。.基于太阳能电池片电致发光的原理将太阳能电池板成像，并分析和评估图像以确定预处理的方式和用于识别缺陷图案的方案。.（2）针对影响...
湖南大学电气与信息工程学院、长沙学院土木工程学院、武汉大学电气自动化学院、无损检测技术福建省高等学校重点实验室（福建师范大学福清分校）的研究人员杨瑞珍、杜博伦、何赟泽、黄守道、张宏，在《电工技术学报》2018年增刊2上撰文（论文标题为“晶体硅光伏电池电磁感应激励红外热...
CCD曝光工艺常见缺陷及解决办法.电子电路2014ElectronicSci.Nov.15，2014CCD曝光工艺常见缺陷及解决办法研究室，重庆400060)CCD器件曝光过程中会产生各种缺陷，由此会对线宽和图形产生不良影响。.文中针对这些缺陷分析了成因并找到相应的解决办法，形成严谨的...
机器视觉工业缺陷检测的那些事（二）2、相机的选择（1）工业数字相机的分类：工业相机按照芯片类型可以分为CCD相机、CMOS相机；按照输出色彩可以分为单色（黑白）相机、彩色相机；按照传感器的结构特性可以分为线阵相机（黑白摄像机...
机器视觉工业缺陷检测的那些事（一）视觉工业检测大体分为工件尺寸测量与定位，和表面缺陷检测，及各种Logo标识的检测与识别等。尺寸测量主要是检测物体的长、宽、高，比较常见主要是物体的二维尺寸（宽和高）检测。表面缺陷检测主要是物体表面局部物理或者化学性质不均匀的区域，比较...
半导体行业深度报告：半导体硅片行业全攻略.市场认为国内硅晶圆会过度投资，我们认为国内硅晶圆产业起点低、起步晚，且长晶技术是决定硅片参数的核心环节，主要体现在炉内温度的热场和控制晶体生长形状的磁场设计能力。.硅抛光晶圆的…
为了更好分析硅片几何参数对实验检测效果的影响，应用飞秒激光的影响。系统，通过在硅片试件表面预制不同尺寸的裂纹来模拟微裂纹缺陷。预制裂纹长10mm，宽度分0.035、0.030和0.025mm。预制裂纹别为0.040、尺寸及半导体硅片试件分别如图2所示。
硅片表面的几种处理方法和步骤一.硅片的预处理:(1)硅片切割:根据所需大小,用玻璃刀进行硅片的切割.操作时需要在洁净的环境中,并带一次性手套,以避免污染硅片.先在桌面平铺一张干净的称量纸,用镊子小心夹持硅片的边缘,将其正面朝上(光亮面)放于称量纸上:再取一张干净的称量纸覆盖于硅片...
针对硅片检测要实现高速度、高精度和实时性的目标，需采用基于机器视觉技术的硅片检测系统代替人工来完成硅片质量的检测。.根据太阳能硅晶片检测系统的总体功能（表面缺陷检测和颜色检测）需求，进行了系统硬件结构与软件的设计。.硬件部分包括图像...
201711107234.6,一种硅片缺陷检测方法,本发明公开的一种硅片缺陷检测方法，用于检测识别具有微裂纹缺陷的硅片，包括步骤：提供待测硅片；将所述待测硅片置于超声设备中进行超声处理；以及检测前述经超声处理后未破损的待测硅片是否具有微裂纹缺陷。
该太阳能电池片缺陷检测系统检测缺陷的流程，如图1.1所示：图1.1缺陷系统检测步骤（1）收集太阳能电池板图像。.基于太阳能电池片电致发光的原理将太阳能电池板成像，并分析和评估图像以确定预处理的方式和用于识别缺陷图案的方案。.（2）针对影响...
湖南大学电气与信息工程学院、长沙学院土木工程学院、武汉大学电气自动化学院、无损检测技术福建省高等学校重点实验室（福建师范大学福清分校）的研究人员杨瑞珍、杜博伦、何赟泽、黄守道、张宏，在《电工技术学报》2018年增刊2上撰文（论文标题为“晶体硅光伏电池电磁感应激励红外热...
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为了更好分析硅片几何参数对实验检测效果的影响，应用飞秒激光的影响。系统，通过在硅片试件表面预制不同尺寸的裂纹来模拟微裂纹缺陷。预制裂纹长10mm，宽度分0.035、0.030和0.025mm。预制裂纹别为0.040、尺寸及半导体硅片试件分别如图2所示。
硅片表面的几种处理方法和步骤一.硅片的预处理:(1)硅片切割:根据所需大小,用玻璃刀进行硅片的切割.操作时需要在洁净的环境中,并带一次性手套,以避免污染硅片.先在桌面平铺一张干净的称量纸,用镊子小心夹持硅片的边缘,将其正面朝上(光亮面)放于称量纸上:再取一张干净的称量纸覆盖于硅片...
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