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课程论文SoC可测性设计与测试概述SummarizationforDFTandtestofSoCByMYJY2012-4inNJ摘要：本文简述了SoC的可测性设计的意义，以及SoC测试相关知识，并介绍了一些SoC测试数据压缩的方法，旨在对SoC的测试有更好更全面的了解。
系统芯片SOC的可测性设计分为两大类嵌入式核EMBEDDEDCES内部测试结构的设计与优化；系统芯片级的测试设计与优化。本文研究的部分扫描算法，就属于嵌入式核内部测试结构设计与优化的范畴。全扫描的可测性设计方法在芯片面积和性能上的开销较大，而部分扫描可以很好地解决这一问题。
嵌入式测试应对SoC设计挑战在国际测试大会上，英特尔公司副总裁兼副总经理GadiSinger在题为“应对频谱纳米技术和千兆复杂性的挑战”的演讲中指出，从1940年以来，每立方英尺MIPS或每磅MIPS数每10年就增加100倍。
SoC设计中主要的EDA工具常用的EDA工具以高亮标示出。参考：SoC设计方法与实现(第3版)，郭炜，魏继增，郭筝，谢憬编著...可测性设计工具分类工具及供应商ATPGFastscan(mentor)，TetraMAX(synopsys)BoundaryscanBSDArchitect(mentor...
·IDDQ测试第13-14页·模拟和混合信号电路测试第14-15页·可测性设计技术第15-23页·扫描链测试设计第15-20页·边界扫描测试设计第20-22页·BIST测试设计第22-23页·SOC芯片对测试…
片上系统设计中可测性设计的完备性，徐磊,孙义和-国外电子测量技术2001年第03期杂志在线阅读、文章下载。片上系统设计中可测性设计的完备性-《国外电子测量技术》2001年03期-中国知网
集成电路设计的发展现状及趋势摘要：集成电路设计展现状及趋势是全世界微电子技术发展的重中之重，同时也是我国面临的有利机会和严峻挑战。.只有认清了现状和找对了趋势，我国的集成电路发展才会越来越强。.下面将简要介绍SoC设计技术、低功耗...
系统芯片（SoC）设计。包括多媒体（音视频编），数字电视，平面显示驱动，数据计算，通信传输（宽带数据、移动电话、无线局域网、泛在通信等），汽车电子，工业控制等。测试技术和可测性设计。包括专用集成电路可测性设计...
第11章系统芯片的可测性设计11.1电路测试的原理与方法11.1.1通路敏化法及相关的测试生成算法11.1.2基于神经网络的电路测试生成方法11.1.3基于二元判定图BDD的电路测试生成方法11.1.4逻辑函数的电路可测性设计11.1.5大规模集成电路与系统的可测性
在介绍可测电路的部分，我们用Verilog描述了各种扫描和BIST方法。同时，使用Verilog的测试平台搭建虚拟测试机，以检查和评估这些可测试性方法。在设计可测试性电路的过程中，使用Verilog的测试平台来评估这些电路，从而提高主设计的可测试性。
课程论文SoC可测性设计与测试概述SummarizationforDFTandtestofSoCByMYJY2012-4inNJ摘要：本文简述了SoC的可测性设计的意义，以及SoC测试相关知识，并介绍了一些SoC测试数据压缩的方法，旨在对SoC的测试有更好更全面的了解。
系统芯片SOC的可测性设计分为两大类嵌入式核EMBEDDEDCES内部测试结构的设计与优化；系统芯片级的测试设计与优化。本文研究的部分扫描算法，就属于嵌入式核内部测试结构设计与优化的范畴。全扫描的可测性设计方法在芯片面积和性能上的开销较大，而部分扫描可以很好地解决这一问题。
嵌入式测试应对SoC设计挑战在国际测试大会上，英特尔公司副总裁兼副总经理GadiSinger在题为“应对频谱纳米技术和千兆复杂性的挑战”的演讲中指出，从1940年以来，每立方英尺MIPS或每磅MIPS数每10年就增加100倍。
SoC设计中主要的EDA工具常用的EDA工具以高亮标示出。参考：SoC设计方法与实现(第3版)，郭炜，魏继增，郭筝，谢憬编著...可测性设计工具分类工具及供应商ATPGFastscan(mentor)，TetraMAX(synopsys)BoundaryscanBSDArchitect(mentor...
·IDDQ测试第13-14页·模拟和混合信号电路测试第14-15页·可测性设计技术第15-23页·扫描链测试设计第15-20页·边界扫描测试设计第20-22页·BIST测试设计第22-23页·SOC芯片对测试…
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集成电路设计的发展现状及趋势摘要：集成电路设计展现状及趋势是全世界微电子技术发展的重中之重，同时也是我国面临的有利机会和严峻挑战。.只有认清了现状和找对了趋势，我国的集成电路发展才会越来越强。.下面将简要介绍SoC设计技术、低功耗...
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在介绍可测电路的部分，我们用Verilog描述了各种扫描和BIST方法。同时，使用Verilog的测试平台搭建虚拟测试机，以检查和评估这些可测试性方法。在设计可测试性电路的过程中，使用Verilog的测试平台来评估这些电路，从而提高主设计的可测试性。
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