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开尔文电桥法测量电阻的电阻率.课程名称大学物理设计性实验辅导教师专业班级资源094209014312122010年11开尔文双电桥测低电阻一、前言电阻是电路的基本元件之一，电阻值的测量是基本的电学测量。.电阻的分类方法很多，通常按种类划分称碳膜电阻、金属...
天然气水合物电阻率测量方法的研究.【摘要】：天然气水合物(NaturalGasHydrate,NGH)被认为是21世纪的一种优质、洁净能源,目前已引起有关研究人员的广泛关注。.在天然气水合物勘探开发之前,其电阻率特性及其测量方法的研究对于确定天然气水合物的开发...
测定金属电阻率实验报告.docx,测定金属电阻率实验报告学生实验二：测定金属的电阻率学生姓名：小组成员：1、实验目的：(1)理解伏安法测电阻的原理及如何减小误差．(2)测定金属的电阻率．2、实验原理：由电阻定律R=可知，金属的电阻率为ρ，因此，测出金属导线的长度l、横截面积S和导线的...
本论文的研究对象是厚度为1μm的p2GaN材料,属于薄膜型半导体材料.因此,...第5期薛松等:p型GaN欧姆接触的比接触电阻率测量测量次数R1/kΩR2/kΩR3/kRe/修正前ρ/(Ω·cm2)修正后ρ/(·cm2)32.792.265.01202.61×10...
表面体积电阻率的标准测试方法您的评论发布评论用户评价关于体积的内容，不错2018-06-2516:17:30文档贡献者夏天的奇特贡献于2018-06-281/2相关文档推荐表面电阻率测试标准...
但是你的薄膜是不是1微米厚，还需要测量，否则厚度不同算出来的电阻率差别较大管它是不是1微米厚，总不可能相差3个数量级的。我用四探针测其薄层电阻率居然是~75kΩ·cm了，所以我怀疑自己算的结果是不是不对
汞探针CV测试仪测量硅重掺衬底外延层电阻率的准确性和稳定性.pdf,IUlIIIIIIIIlllII[1lllllIII摘要本论文针对公司使用汞探针CV495测试仪测量重掺衬底硅外延层电阻率时，发现所得结果有不稳定情况，从而导致大批产品报废的问题进行研究。首先，分析了影响测试结果稳定性、重复性的各种因素；在此...
实验二四探针法测试硅片的电阻率一、实验目的1.掌握方块电阻的概念和意义；2.掌握四探针法测量方块电阻的原理；3.学会操作四探针测试仪。二、实验原理1.方块电阻对任意一块均匀的薄层半导体，厚W，宽h，长L。图1薄层半导体示意图如果电流沿着垂直于宽和厚的方向，则电阻为，当…
表面电阻到底是什么单位呢，根据说明书感觉就是Ω根据ASTMD-257写的是Ω（persquare）两者计算公式也不一样有的文献单位又是Ω*cm测试仪器为PC68型高阻仪我用三电极系统测量表面电阻，说明书上给的计算表面电阻的公式是ps=Rs*2π/ln（d2...
体积电阻率和表面电阻率，是两个不同的概念。比较大小没意义。形象地说，当一种材料确定以后，它的体积电阻率p是确定的，单位Ω.cm。当用这种材料做成薄膜以后，它的表面电阻率Rs与(p/t)成正比(其中t是薄膜的厚度)，单位Ω/。
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