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存储器故障与可靠性试验研究.【摘要】：存储器因其优良的性能,现在已经大规模地应用于数据处理、移动通信、嵌入式系统和智能设备等高新现代技术产业之中。.存储器容量由八十年代的几KB,到如今的几个TB；尤其是最近几年,存储器的容量扩展的趋势更加之...
本论文以此为出发点系统研究了基于c仉O薄膜的RRAM电阻存储器的电学和测试两方面的可靠性问题，并分析了这些可靠性问题的产生原因，同时提出了相应的解决方案。
因此选择“存储器测试方法的研究及测试程序的实现”这一课题，对所内产品研制和生产有明显的实用价值和一定的理论价值，同时提高我国电子设备的可靠性，更好的为国防建设作保障。.1．2存储器及其测试系统的发展趋势1．2．1存储器的分类存储器是...
阻变存储器可靠性模型及表征.PDF,阻变存储器可靠性与表征高滨清华大学微纳电子系存储器被广泛应用于电子产品、互联网、国防、航天等各领域。存储器年产值超过700亿美元，占比超过集成电路总市场的1/4。存储器的需求逐年增长大数据时代信息技术，存储器重要性更加突出2处理器存储器...
本论文开展0.13umSONOS存储器的性能研究,通过工艺技术和测试方法改进,提高了器件可靠性、低温特性和干扰特性,并在产品生产中得到应用。针对存储器可靠性研究,本论文在分析器件结构、制造工艺、工作原理、电荷丢失机制及测试方法的基础上,分别...
本论文第一部分工作研究了2DNAND闪存存储器的可靠性。虽然很多学者已经对电荷隧穿层和电荷阻挡层的尺寸缩放的影响有了一定的研究,但是在擦写循环期间,电荷阻挡层尺寸的变化对数据保持特性的影响还尚…
非易失性存储器（NVM）的可靠性挑战与权衡（二）.本文英文原版请点击这里！.这是第二部分的内容，着眼于各式各样的存储器以及可能的解决方案。.第一部分的内容可以在这里找到。.尽管各种NVM技术（例如PCRAM，MRAM，ReRAM和NRAM）具有相似的存储特征，但...
一个可靠性测试工程师应该具备哪些能力,与测试员的区别是什么?-——你要有足够强的物理知识功底,你要对能带和半导体物理器件足够了解,最好动手能力比较强,研究生的时候要阅读足够多的可靠性论文,以及了解45纳米制程都需要哪些可靠性测试,以及失效模型是什么,怎么计算寿命,怎么选点测试...
存储器的产业化会遇到很多的问题，但是可靠性是相变存储器大规模量产中最重要的影响因素，随着集成电路工艺进入28nm阶段，工艺日趋复杂，流片费用急剧增加，对可靠性问题的物理机理进行深入研究，建立精确的可靠性模型，可以达到优化器件性能提高良...
研究团队基于的铪锆氧铁电存储器进行了一系列高精度可靠性测试分析，详细研究了存储单元唤醒、疲劳和缺陷浓度的退火温度相关性以及铁电器件的失效过程，展示了三种主要失效模式；其次，结合TDDB绝缘膜可靠性测试方案和理论计算...
存储器故障与可靠性试验研究.【摘要】：存储器因其优良的性能,现在已经大规模地应用于数据处理、移动通信、嵌入式系统和智能设备等高新现代技术产业之中。.存储器容量由八十年代的几KB,到如今的几个TB；尤其是最近几年,存储器的容量扩展的趋势更加之...
本论文以此为出发点系统研究了基于c仉O薄膜的RRAM电阻存储器的电学和测试两方面的可靠性问题，并分析了这些可靠性问题的产生原因，同时提出了相应的解决方案。
因此选择“存储器测试方法的研究及测试程序的实现”这一课题，对所内产品研制和生产有明显的实用价值和一定的理论价值，同时提高我国电子设备的可靠性，更好的为国防建设作保障。.1．2存储器及其测试系统的发展趋势1．2．1存储器的分类存储器是...
阻变存储器可靠性模型及表征.PDF,阻变存储器可靠性与表征高滨清华大学微纳电子系存储器被广泛应用于电子产品、互联网、国防、航天等各领域。存储器年产值超过700亿美元，占比超过集成电路总市场的1/4。存储器的需求逐年增长大数据时代信息技术，存储器重要性更加突出2处理器存储器...
本论文开展0.13umSONOS存储器的性能研究,通过工艺技术和测试方法改进,提高了器件可靠性、低温特性和干扰特性,并在产品生产中得到应用。针对存储器可靠性研究,本论文在分析器件结构、制造工艺、工作原理、电荷丢失机制及测试方法的基础上,分别...
本论文第一部分工作研究了2DNAND闪存存储器的可靠性。虽然很多学者已经对电荷隧穿层和电荷阻挡层的尺寸缩放的影响有了一定的研究,但是在擦写循环期间,电荷阻挡层尺寸的变化对数据保持特性的影响还尚…
非易失性存储器（NVM）的可靠性挑战与权衡（二）.本文英文原版请点击这里！.这是第二部分的内容，着眼于各式各样的存储器以及可能的解决方案。.第一部分的内容可以在这里找到。.尽管各种NVM技术（例如PCRAM，MRAM，ReRAM和NRAM）具有相似的存储特征，但...
一个可靠性测试工程师应该具备哪些能力,与测试员的区别是什么?-——你要有足够强的物理知识功底,你要对能带和半导体物理器件足够了解,最好动手能力比较强,研究生的时候要阅读足够多的可靠性论文,以及了解45纳米制程都需要哪些可靠性测试,以及失效模型是什么,怎么计算寿命,怎么选点测试...
存储器的产业化会遇到很多的问题，但是可靠性是相变存储器大规模量产中最重要的影响因素，随着集成电路工艺进入28nm阶段，工艺日趋复杂，流片费用急剧增加，对可靠性问题的物理机理进行深入研究，建立精确的可靠性模型，可以达到优化器件性能提高良...
研究团队基于的铪锆氧铁电存储器进行了一系列高精度可靠性测试分析，详细研究了存储单元唤醒、疲劳和缺陷浓度的退火温度相关性以及铁电器件的失效过程，展示了三种主要失效模式；其次，结合TDDB绝缘膜可靠性测试方案和理论计算...
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