超大规模集成电路测试技术综述.韦紫菱常郝.【摘要】:正随着纳米制造技术和集成电路系统的高速发展,超大规模集成电路(VLSI)的内部结构越来越复杂,其测试难度越来越大、测试成本越来越高,本文对目前广泛应用的超大规模集成电路测试技术进行了总结和...
超大规模集成电路技术的迅速发展促进了工业生产和民用电器的进一步改革,此外,还滋生了很多新型的电子产品,如mini手机、paid,利用无线移动网络的电子设备受到广大群众的喜爱。因此,由公众需求直接导致这些电子产品需要更好的性能和更高的制造工艺和设计者精巧布图的能力。
超大规模集成电路布线中的图论问题研究.发布时间:2018-06-1619:34.本文选题:VLSI+通道布线;参考:《安徽理工大学》2017年硕士论文.【摘要】:大规模集成电路设计(VISI)中的线网关系可以用点和边来描述,这样组合图论思想就可以应用到VLSI物理设计中,在...
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集成电路的性能差不多提高了超大规模集成电路发展的概述集成电路Z所以获得如此迅速的发展,与数据处理系统日益增长的各种要求是分不开改进性能一尽可能减少信号处理的传递时间。.降低成木一从设计、制造、组装、冷却等各方而降低成本。.(3...
这篇文章主要讲一下芯片设计中测试环节以及相关的概念。芯片设计中的测试分为以下几类:1)验证:在芯片量产之前,验证设计是否正确和符合规范。在验证时,主要进行功能测试和电气特性测试。功能测试是测试输入激励与响应的一致性,电气测试分为直流和交流特性测试两种。
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摘要:在超大规模集成电路芯片中,电路板的详细实现通常是不知道的,只有功能特性对用户是公开的.在这篇论文中,我们呈现了一个系统的方案,仅仅基于被测电路板的功能特性,我们可以检测出并确定出固定故障和桥接故障.被提议的这个方案对于学术和工业超大规模集成电路使用者检测固定故障和桥接...
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摘要:在超大规模集成电路芯片中,电路板的详细实现通常是不知道的,只有功能特性对用户是公开的.在这篇论文中,我们呈现了一个系统的方案,仅仅基于被测电路板的功能特性,我们可以检测出并确定出固定故障和桥接故障.被提议的这个方案对于学术和工业超大规模集成电路使用者检测固定故障和桥接...
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