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Bridgman法生长TeO_2晶体的缺陷分析(英文)【摘要】：采用Bridgman法生长了二氧化碲(TeO2)晶体,运用光学显微镜、电子衍射光谱、化学腐蚀等方法分析了该方法生长TeO2晶体内部的缺陷。.初步讨论了散射点、微裂纹、气泡和黑点、条纹以及腐蚀坑等微缺陷的形成机理...
晶体生长手册1：晶体生长及缺陷形成概论（英文版）出版时间：2013年版内容简介多年以来，有很多探索研究已经成功地描述了晶体生长的生长工艺和科学，有许多文章、专著、会议文集和手册对这一领域的前沿成果做了综合评述。
英文经典晶体学基础书--Crystallization第四版已经有609人回复有没有什么晶体学基础的书推荐啊？人写的现代晶体学怎么样？已经有10人回复求助晶体学资料InternationalTablesforCrystallographyVol.A~G已经有8人回复
位错产生原因：晶体生长过程中，籽晶中的位错、固-液界面附近落入不溶性固态颗粒，界面附近温度梯度或温度波动以及机械振动都会在晶体中产生位错。在晶体生长后，快速降温也容易增殖位错。（111）呈三角形；（100）呈方形；（110）呈菱形。
论文主要内容有:1由单负材料和负折射率材料构成的一维光子晶体中能带和缺陷模特性研究。.负折射率材料是近年来的研究热点,不仅因为其本身就有很多的光学优点(例如形成完美透镜),而且在光子晶体中引入负折射率材料后也会出现很多新的和有用的特性...
本论文采用基于密度泛函理论的第一性原理计算方法对几种具有特殊晶体结构的热电材料(ReSi1.75,β-Zn4Sb3和Rh3ScSi7)的晶格缺陷和电子结构(如态密度、能带结构、成键性质、有效质量等)进行了研究,并研究了掺杂工艺对这几种材料晶体结构和电子结构的
TeO2晶体的力学性能及缺陷分析摘要：用坩埚下降法成功生长了声光用二氧化碲晶体，生长的晶体大小（37mm×43mm×47mm），重点研究了二氧化碲晶体不同晶面的力学性能，以及不同结晶面的腐蚀形貌。.材料力学性能的好坏严重影响着其服役效果和服役寿命。.本...
陶瓷晶体缺陷也可分为3大类:点缺陷(空位、间隙原子、电子空穴等);线缺陷(位错);面缺陷(晶界、亚晶界)。一般来说,在正常情况下,大多数陶瓷材料不满足等离子体定义,但在陶瓷制造工艺过程中,陶瓷材料的应用特别是作为功能材料时,它的等离子体性质便显示出来,等离子体理论也是大有用武之地。
论文题目:氟化钙晶体的生长与缺陷研究英文论文题目:作者:侍敏莉英文作者:联系作者:英文联系作者:外单位作者单位:英文外单位作者单位:发表年度:2004卷:35期:0页码:192-194摘要:英文摘要:刊物名称:功能材料期刊刊号:138英文刊物名称:论文全文:
晶体生长手册5：晶体生长模型及缺陷表征（英文版）出版时间：2013年版内容简介《Springer手册精选系列·晶体生长手册（第5册）：晶体生长模型及缺陷表征（影印版）》介绍了生长工艺和缺陷形成的模型。
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晶体生长手册1：晶体生长及缺陷形成概论（英文版）出版时间：2013年版内容简介多年以来，有很多探索研究已经成功地描述了晶体生长的生长工艺和科学，有许多文章、专著、会议文集和手册对这一领域的前沿成果做了综合评述。
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位错产生原因：晶体生长过程中，籽晶中的位错、固-液界面附近落入不溶性固态颗粒，界面附近温度梯度或温度波动以及机械振动都会在晶体中产生位错。在晶体生长后，快速降温也容易增殖位错。（111）呈三角形；（100）呈方形；（110）呈菱形。
论文主要内容有:1由单负材料和负折射率材料构成的一维光子晶体中能带和缺陷模特性研究。.负折射率材料是近年来的研究热点,不仅因为其本身就有很多的光学优点(例如形成完美透镜),而且在光子晶体中引入负折射率材料后也会出现很多新的和有用的特性...
本论文采用基于密度泛函理论的第一性原理计算方法对几种具有特殊晶体结构的热电材料(ReSi1.75,β-Zn4Sb3和Rh3ScSi7)的晶格缺陷和电子结构(如态密度、能带结构、成键性质、有效质量等)进行了研究,并研究了掺杂工艺对这几种材料晶体结构和电子结构的
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陶瓷晶体缺陷也可分为3大类:点缺陷(空位、间隙原子、电子空穴等);线缺陷(位错);面缺陷(晶界、亚晶界)。一般来说,在正常情况下,大多数陶瓷材料不满足等离子体定义,但在陶瓷制造工艺过程中,陶瓷材料的应用特别是作为功能材料时,它的等离子体性质便显示出来,等离子体理论也是大有用武之地。
论文题目:氟化钙晶体的生长与缺陷研究英文论文题目:作者:侍敏莉英文作者:联系作者:英文联系作者:外单位作者单位:英文外单位作者单位:发表年度:2004卷:35期:0页码:192-194摘要:英文摘要:刊物名称:功能材料期刊刊号:138英文刊物名称:论文全文:
晶体生长手册5：晶体生长模型及缺陷表征（英文版）出版时间：2013年版内容简介《Springer手册精选系列·晶体生长手册（第5册）：晶体生长模型及缺陷表征（影印版）》介绍了生长工艺和缺陷形成的模型。
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