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半导体器件可靠性与失效分析. 欧洲空间局ESA标准中的定义： 完成某一电子、电气和机电功能，并由一个或几个部分构成而且一般不能被分解或不会破坏的某个装置。. GJB4027-2000《军用电子元器件破坏性物理分析方法》中的定义： 在电子线路或电子设备中执行 ...
塑封功率半导体器件温度循环可靠性分析及寿命预测. 【摘要】： 功率半导体器件是电力电子系统中最重要的组成部件,在通讯、交通、国防以及宇航等领域得到了广泛应用。. 采用晶体管外形封装的分立式器件为中央处理器提供必要的电源管理和转换控制,在电路 ...
集成电路IC的质量与可靠性测试质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命，好的品质，长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所在。在做产品验证时我们往往会遇到三个问题，验证什么，如何去验证，哪里去验证，这就是what, how , where 的问题了。
【参考文献】 [1]何寒冰,罗小琴.半导体集成电路可靠性测试和数据处理探析[J].电子制作,2020(10):20-21.[2]吕燚.退化系统的可靠性建模与老练策略优化[D].广州:广东工业大学,2019.[3]赵章涵.塑封功率半导体器件温度循环可靠性分析及寿命预测[D].西安:西安电子科技
半导体器件的可靠性.pdf,维普资讯 第 5期 把可靠性定义为 “系统及其组成 Willoughloy以及陆军装备部的S．J．洛伯携手制 部分在无故障、无退化或不要求保障系统的情 定了DoD有关R&M的政策和指南。 况下执行其功能的能力”。 20世纪90年代后期 ...
噪声用于半导体器件可靠性研究. 李靖. 【摘要】： 随着高新技术的发展，半导体激光器作为一种重要光源，在光纤通信、光传感、信息存储，医疗以及泵浦固体激光器和光纤放大器等领域得到广泛应用。. 半导体激光器的质量和可靠性在应用系统中起着关键作用 ...
功率半导体器件如晶闸管 二极管等广泛应用于功率变换 自动控制 力驱动脉冲功率等领域 对于这些领域中应用的装置而言 可靠性是设计制造 及使用者最关心的问题 装置的高可靠性对功率半导体器件的可靠性也提出了更 高要求 为了保证给用户提供高可靠性的产品 近年来 奇亿公司不断致力于功 率 ...
SiC金属氧化物半导体(MOS)器件中SiO_2栅氧化层的可靠性直接影响器件的功能。为了开发高可靠性的栅氧化层,将n型4H-SiC(0001)外延片分别在1 200,1 250,1 350,1 450和1 550℃5种温度下进行高温干氧氧化实验来制备SiO_2栅氧化层。
噪声用于半导体器件可靠性研究-本论文叙述了噪声的数学基础和半导体器件的基本电噪声特性以及噪声用于电子器件可靠性表征的方法,介绍了噪声的测量方法和测试系统。基于噪声理论和测试系统,开展了半导体激光器低频电噪声与器件...
半导体器件可靠性与失效分析. 欧洲空间局ESA标准中的定义： 完成某一电子、电气和机电功能，并由一个或几个部分构成而且一般不能被分解或不会破坏的某个装置。. GJB4027-2000《军用电子元器件破坏性物理分析方法》中的定义： 在电子线路或电子设备中执行 ...
塑封功率半导体器件温度循环可靠性分析及寿命预测. 【摘要】： 功率半导体器件是电力电子系统中最重要的组成部件,在通讯、交通、国防以及宇航等领域得到了广泛应用。. 采用晶体管外形封装的分立式器件为中央处理器提供必要的电源管理和转换控制,在电路 ...
集成电路IC的质量与可靠性测试质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命，好的品质，长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所在。在做产品验证时我们往往会遇到三个问题，验证什么，如何去验证，哪里去验证，这就是what, how , where 的问题了。
【参考文献】 [1]何寒冰,罗小琴.半导体集成电路可靠性测试和数据处理探析[J].电子制作,2020(10):20-21.[2]吕燚.退化系统的可靠性建模与老练策略优化[D].广州:广东工业大学,2019.[3]赵章涵.塑封功率半导体器件温度循环可靠性分析及寿命预测[D].西安:西安电子科技
半导体器件的可靠性.pdf,维普资讯 第 5期 把可靠性定义为 “系统及其组成 Willoughloy以及陆军装备部的S．J．洛伯携手制 部分在无故障、无退化或不要求保障系统的情 定了DoD有关R&M的政策和指南。 况下执行其功能的能力”。 20世纪90年代后期 ...
噪声用于半导体器件可靠性研究. 李靖. 【摘要】： 随着高新技术的发展，半导体激光器作为一种重要光源，在光纤通信、光传感、信息存储，医疗以及泵浦固体激光器和光纤放大器等领域得到广泛应用。. 半导体激光器的质量和可靠性在应用系统中起着关键作用 ...
功率半导体器件如晶闸管 二极管等广泛应用于功率变换 自动控制 力驱动脉冲功率等领域 对于这些领域中应用的装置而言 可靠性是设计制造 及使用者最关心的问题 装置的高可靠性对功率半导体器件的可靠性也提出了更 高要求 为了保证给用户提供高可靠性的产品 近年来 奇亿公司不断致力于功 率 ...
SiC金属氧化物半导体(MOS)器件中SiO_2栅氧化层的可靠性直接影响器件的功能。为了开发高可靠性的栅氧化层,将n型4H-SiC(0001)外延片分别在1 200,1 250,1 350,1 450和1 550℃5种温度下进行高温干氧氧化实验来制备SiO_2栅氧化层。
噪声用于半导体器件可靠性研究-本论文叙述了噪声的数学基础和半导体器件的基本电噪声特性以及噪声用于电子器件可靠性表征的方法,介绍了噪声的测量方法和测试系统。基于噪声理论和测试系统,开展了半导体激光器低频电噪声与器件...
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