物理实验论文模板下载

这是我在网上看到的一篇物理论文范文，希望对你有帮助。摘要：可靠性问题一直以来是各个行业关注的重点，伴随着电子工业的迅猛发展，可靠性分析将会越来越多的应用到该领域。在过电压防护领域中，SPD(Surge Protection Device)及浪涌保护系统的可靠性在电源、信号及射频显得尤为重要。本文使用系统性分析的方法对SPD的可靠性进行了分析，提出了提高SPD可靠性的途径，为今后的SPD技术发展提供了参考。关键词：可靠性；SPD；过电压；浪涌保护0 引言近代科技中，对元器件、零部件、整机、系统的可靠性提出了越来越高的要求。随着人们越来越多的使用电子元器件，电子元器件不能承受过电压和过电流的缺陷导致过电压保护器件在越来越多的行业中使用。于是各个行业针对SPD的可靠性提出了更高的要求。因此，为了适应现代科技的发展及基于设备、系统安全的考虑，对SPD的可靠性问题进行系统的分析并提出提高其可靠性的途径是很有必要的。1 串联系统与并联系统的可靠性评价方法由于包括SPD在内的各种产品都是通过若干个单元为了完成规定的功能而组合在一起的。因此除了针对单个部件和真个产品性能的评估外，还需要对系统结构进行可靠性评价。针对系统最基本的评价方法有串联系统和并联系统两种，因为任意的系统均可由这两种关系组成。 串联系统的可靠度串联系统指的是对于一个系统来说，如果只要有一个单元失效就导致整个系统的失效，或者只有当所有单元都正常工作时，系统才正常工作。串联系统的模型如图一所示：设在时间t内，SPD的压敏单元Ai正常工作的事件为Xi，则串联系统的可靠度R（t）就是所有这n个单元同时正常工作的概率。即：R（t）=P（x1•x2•……•xn ）若各单元可靠度相互独立，则串联系统的可靠度为：P（x1）= R1（t）P（x2︳x1）= P（x2）=R1（t）……P（xn︳x1•x2•……•xn ）= P（xn）=Rn（t）于是串联系统的可靠度为：R（t）= ∏ni-1 Ri（t）由此式可见，单元数目越多，串联系统的可靠度越低。 并联系统的可靠度并联系统指的是只要有一个单元还未失效，则整个系统就不发生故障，或者说只有当所有单元都失效时，整个系统才失效。并联系统模型如图二所示：设在时间t内，压敏单元Bi，发生故障的事件分别为Yi，则系统不可靠度为：F(t)= P（y1•y2•……•yn ）同理得到：F（t）= ∏ni-1 Fi（t）则可得出，并联系统的可靠度为：R（t）=1- ∏ni-1 Fi（t）=1- ∏ni-1 [1-Ri（t）]由此式可见，单元数目越多，并联系统的可靠度越高。 并串联系统的可靠度对于SPD和其他的产品来说，很少有单一串联的系统或单一并联的系统，往往都是综合两者的系统。串并联系统指的是各单元的关系先串联，然后并联组合。并串联系统指的是各单元的关系为先并联，然后串联组合。SPD的应用中多采取并串组合的方式，如图三所示：其中并串联系统的可靠度为：Rsp =1-（1-Rn）k由此可以看出，SPD最终采取的还是MOV与GDT的串联组合且系统已经简化到极致。因此要保证SPD的可靠性，均需要保证MOV和GDT单元的可靠性，即我们通常所讲的可靠度、瞬时故障率及平均故障间隔时间。2 保证和提高SPD可靠性途径基于上述的分析可以看出保证SPD可靠性的问题集中在保证MOV和GDT的可靠性上了，因此两个器件的参数正态分布将直接影响到SPD的可靠性。除此之外，选取器件的过程中，减额使用的原则也是非常重要的，即设计时让元器件、零部件和组件在低于负荷的情况下使用。 静态参数一致性控制对于SPD中的静态参数来讲，在设计阶段均做过SPD的极限测试，即MOV和GDT电压分别在最高和最低情况下的不同组合，这样制定出的上限下限将作为器件参数正态分布时参考的关键指标。根据R（t）= ∏ni-1 Ri（t）可以看出，要保证R（t）越低，前提是保证RMOV（t）和RGDT（t）的可靠度。通过静态参数的正态分布图可以看出，只要保证参数的一致性即可在很大程度上保证系统的可靠度。如图四所示： 器件的标准化选取标准化的器件和参数是经过权威部门鉴定或者长期的实验验证的结果，比起新设计的或者定制的器件更可靠。若保存或建立一个具有基本失效率值的标准元器件手册以备设计者选用，则产品的可靠性设计将大大减少系统可靠性设计的工作量。3 结论本文使用质量管理中的可靠性分析方法针对SPD进行了研究，根据SPD具体的系统设计及结构方式进行评估后，可以得出以下结论：1. 由于SPD系统通常均采用MOV与GDT串联的方式组合，因此SPD的可靠性主要由MOV和GDT的可靠性决定。2. 为了保证器件的可靠性，需要重点注意的是MOV与GDT的静态参数一致性，器件选型的标准化和减额使用的设计方法。3. 后续需要进一步就元器件的可靠性进行研究，以保证从工艺层面上寻找出更加有效的控制手段。[参考文献][1] 郎志正 质量管理及其技术方法 2003，345～361.[2] 马逢时 刘传冰 等 六西格玛管理统计指南--MINTAB使用指导 2007，第四章

一、摘要二、实验理论简介三、设计思路\思想四、具体的实验设计（可分为：实验原理、原理图、实验用品、实物图、实验步骤、实验数据等等）五、实验数据处理六、实验结论及讨论七、相关引用

移动电话微波辐射对人体有潜在影响 随着移动电话应用的日益广泛，手机是否对大脑产生损伤是当前热门话题，众说纷纭。浙江大学医学院附属二院脑外科通过细胞生物学和动物实验研究，指出手机微波辐射对中枢神经系统有一定损伤作用，尤其是颅骨缺失人群更易感。这项课题被评为浙江省医药卫生科技创新奖。研究成果为现实生活中防护微波辐射提供了理论的参考依据，达到国内领先、国际先进水平。 在几年的潜心研究中，刘伟国教授、扬小锋 博士等采用健康成年雄性大老鼠40只，每10只为一小组，分为空白组、辐射组、去颅骨组、去颅骨辐射组四个小组。用手术除去颅骨骨窗的大老鼠，在恢复正常行动后再行微波照射。只见辐射组大老鼠在带孔的有机玻璃笼中接受照射，每天上午、下午各持续照射2小时，连续照射21天。对照组大老鼠除不进行照射外，其余生活条件与辐射组相同。 在动物模拟实验研究中实发现频率为900Mhz、功率密度在（正常手机频率为900Mhz、功率密度在）持续时间12小时以上的微波辐射对离体的神经细胞有一定损伤作用。这种损伤随着辐射功率的加大持续时间的延长而加重。当研究人员把去颅骨辐射组与正常辐射组的大老鼠比较，进一步发现频率为900Mhz、功率密度在的微波辐射下（普通手机的工作频率和功率密度）每日4小时持续21天的微波辐射对正常大鼠的脑神经组织无明显损伤，但是相同的微波辐射对颅骨缺失的大鼠脑神经组织却有一定的损伤作用。因此该研究同时也证明颅骨对于移动电话的微波辐射有一定的保护作用。 专家认为现代神经外科技术的进步，颅脑损伤急救技术水平的提高，颅骨缺失患者的人数不断扩大。对于他们应以充分重视，保护他们的中枢神经受外界理化的损害。所以做好卫生防护、正确使用移动电话，是防止微波辐射对人体危害的主要预防措施。只有这样才能够更好利用微波技术造福人类。