1成兴明;;探讨半导体塑封材料市场及技术动向[A];第八次全国环氧树脂应用技术学术交流会论文集[C];1999年2陈盘训;周开明;;半导体器件的X射线辐射效应及加固[A];中国工程物理研究院科技年报(1998)[C];1998年3范士海;;半导体器件失效案例统计与综合分析[A];2010第十五届可靠性学术年会论文…
【摘要】:半导体器件作为各种电子设备最基本的组成部分,其质量的好坏、稳定性的高低都直接影响着整个电子设备的稳定性和安全性,尤其在航天与核电等高技术、高成本、高风险领域,有质量缺陷的半导体器件一旦出现问题,可能会导致无法挽回的灾难,造成巨大的经济损失甚至人员的伤亡。
半导体器件作为各种电子设备最基本的组成部分,其质量的好坏、稳定性的高低都直接影响着整个电子设备的稳定性和安全性,尤其在航天与核电等高技术、高成本、高风险领域,有质量缺陷的半导体器件一旦出现问题,可能会导致无法挽回的灾难,造成巨大的经济损失甚至人员的
桂林理工大学硕士学位论文半导体器件DLTS测试评价系统研究姓名黄彬申请学位级别硕士专业检测技术与自动化装置指导教师陆绮荣201104桂林理工大学硕士学位论文摘要本论文采用虚拟仪器技术构建了一个基于平台的针对半导体中深能级缺陷进行测试的系统。
半导体论文范文三:题目:浅谈半导体分立器件的失效与预防摘要:本文为研究在电应力的作用下,半导体分立器件的可靠性能的影响因子,对元器件失效现象进行了详细的分析研究并提出了有效的预防半导体分立器件失效的措施和建议。
功率半导体器件如晶闸管二极管等广泛应用于功率变换自动控制力驱动脉冲功率等领域对于这些领域中应用的装置而言可靠性是设计制造及使用者最关心的问题装置的高可靠性对功率半导体器件的可靠性也提出了更高要求为了保证给用户提供高可靠性的产品近年来奇亿公司不断致力于功率...
半导体材料(semiconductormaterial)是一类具有半导体性能(导电能力介于导体与绝缘体之间,电阻率约在1mcm~1Gcm范围内)、可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料。那么关于半导体材料领域有哪些sci杂志呢?《SEMICONDUCTOR...
半导体器件用环氧塑封料的性能研究.王良超.【摘要】:通过数十年的持续发展,电子封装技术无论在材料方面,亦或是生产工艺方面均已具备较为成熟的工艺。.但是,塑封器件的可靠性仍然存在很多隐患,如腐蚀失效、温度冲击失效等。.这些隐患的存在,较大...
【摘要】:正半导体器件寿命试验中,通常要记录试验条件(应力)、试验初始样品数、失效器件数和相应的器件失效时间,以及器件性能参数的变化等数据。但在估计器件失效规律和可靠寿命时关键的数据是器件的失效数和相应的失效时间。如果这些数据本身存在误差,将使试验结果产生误差,导致估计...
半导体器件的高功率微波毁伤阈值实验技术研究.刘亿亮.【摘要】:仅用一枚便将伊拉克置于死地,这听起来像天方夜谭。.但2003年2月17日出版的美国《新闻周刊》却给人们描绘了这样一幅图景:进攻伊拉克的战争打响伊始,美军便使用最新研制的高能...
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【摘要】:半导体器件作为各种电子设备最基本的组成部分,其质量的好坏、稳定性的高低都直接影响着整个电子设备的稳定性和安全性,尤其在航天与核电等高技术、高成本、高风险领域,有质量缺陷的半导体器件一旦出现问题,可能会导致无法挽回的灾难,造成巨大的经济损失甚至人员的伤亡。
半导体器件作为各种电子设备最基本的组成部分,其质量的好坏、稳定性的高低都直接影响着整个电子设备的稳定性和安全性,尤其在航天与核电等高技术、高成本、高风险领域,有质量缺陷的半导体器件一旦出现问题,可能会导致无法挽回的灾难,造成巨大的经济损失甚至人员的
桂林理工大学硕士学位论文半导体器件DLTS测试评价系统研究姓名黄彬申请学位级别硕士专业检测技术与自动化装置指导教师陆绮荣201104桂林理工大学硕士学位论文摘要本论文采用虚拟仪器技术构建了一个基于平台的针对半导体中深能级缺陷进行测试的系统。
半导体论文范文三:题目:浅谈半导体分立器件的失效与预防摘要:本文为研究在电应力的作用下,半导体分立器件的可靠性能的影响因子,对元器件失效现象进行了详细的分析研究并提出了有效的预防半导体分立器件失效的措施和建议。
功率半导体器件如晶闸管二极管等广泛应用于功率变换自动控制力驱动脉冲功率等领域对于这些领域中应用的装置而言可靠性是设计制造及使用者最关心的问题装置的高可靠性对功率半导体器件的可靠性也提出了更高要求为了保证给用户提供高可靠性的产品近年来奇亿公司不断致力于功率...
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半导体器件用环氧塑封料的性能研究.王良超.【摘要】:通过数十年的持续发展,电子封装技术无论在材料方面,亦或是生产工艺方面均已具备较为成熟的工艺。.但是,塑封器件的可靠性仍然存在很多隐患,如腐蚀失效、温度冲击失效等。.这些隐患的存在,较大...
【摘要】:正半导体器件寿命试验中,通常要记录试验条件(应力)、试验初始样品数、失效器件数和相应的器件失效时间,以及器件性能参数的变化等数据。但在估计器件失效规律和可靠寿命时关键的数据是器件的失效数和相应的失效时间。如果这些数据本身存在误差,将使试验结果产生误差,导致估计...
半导体器件的高功率微波毁伤阈值实验技术研究.刘亿亮.【摘要】:仅用一枚便将伊拉克置于死地,这听起来像天方夜谭。.但2003年2月17日出版的美国《新闻周刊》却给人们描绘了这样一幅图景:进攻伊拉克的战争打响伊始,美军便使用最新研制的高能...