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毕业设计(论文)任务书(理工类)毕业设计(论文)题目：绝对式光栅尺题目来源教师科研题目类型理论研究（）接在所属项目括号应用研究（）教师自拟课题（）应用设计（）学生自拟课题（）总体设计要求及技术要点：该传感器与光栅数显表,或与电子细分卡、计算机、PLC，或与数控单元一起...
毕业论文光栅尺信号处理电路的设计与.doc,编号南京航空航天大学毕业论文题目光栅尺信号处理电路的设计与学生姓名王玉峰学号050410132学院机电学院专业机械工程及自动化班级0504101指导教师王宏涛副教授二〇〇八年...
《光栅尺的设计及工艺的参考》-毕业论文（设计）.doc,摘要随着数控机床在机床制造领域的普及，现代机床在速度、精度和可靠性方面都有了很大的提高。机床用光栅测量元件和数控系统是数控机床的两大核心部件，清楚地了解他们的发展趋势，对机床制造商和最终用户都有非常重要...
工学硕士学位论文光栅尺高速高精度跨尺度位移测量方法的研究哈尔滨工业大学2008图书分类号：TH744.1U.D.C.：681.5工学硕士学位论文光栅尺高速高精度跨尺度位移测量方法的研究教授申请学位级别：工学硕士学科、专业：机械电子工程授予学位单位：哈尔滨工业大学ClassifiedIndex：TH744.1U.D.C...
学院：电子工程学院专业：电子科学与技术（光电方向）学生姓名：姜任毕业论文题目：基于FPGA的光栅尺四细分电路设计与研究光栅尺是上世纪70年代的新兴产品，随着电子技术和单片机技术的发展，光栅尺位移传感器在位移测量系统得到广泛应用。.随着...
计量圆光栅的原理、制造及其检测技术的研究.数字测量与数字控制，其应用正向着更加广泛的领域渗透。.论文曹先简述了诗霪圆光栅技术的发鼹历史，在诧基础上对计羹圆光栅技术在角度数字测量、运动比较i赆｛｝量、传动轴的扭转角测量等方藤的应用，计...
针对上述问题，本文围绕基于平面光栅尺的光刻机工件台位置测量技术开展研究，主要工作有：1.建立了基于平面光栅尺的光刻机工件台六自由度测量模型。.根据工件台的实际工作状态，设计工件台光栅尺测量系统布局，定义相关坐标系及安装误差，以扫描光...
光栅电子科技大学硕士学位论文尺读数头可以看成是一个非常紧凑的干涉系统，因此光栅尺的测量具有很好的稳定性，被更多地运用于工业实际中。光栅尺测量的分辨率依赖于光栅的栅距，光栅栅距越小，测量的分辨率越高。
关键词：光栅尺；辨向电路；运动控制1、光栅尺的结构光栅是利用光的反射、折射和干涉现象制成的一种光电检测装置，有物理光栅和计量光栅。物理光栅刻线较密，两刻线之间栅距在0.002mm～0.005mm之间，通常用于光谱分析和光波波长的测定。
毕业设计(论文)任务书(理工类)毕业设计(论文)题目：绝对式光栅尺题目来源教师科研题目类型理论研究（）接在所属项目括号应用研究（）教师自拟课题（）应用设计（）学生自拟课题（）总体设计要求及技术要点：该传感器与光栅数显表,或与电子细分卡、计算机、PLC，或与数控单元一起...
毕业论文光栅尺信号处理电路的设计与.doc,编号南京航空航天大学毕业论文题目光栅尺信号处理电路的设计与学生姓名王玉峰学号050410132学院机电学院专业机械工程及自动化班级0504101指导教师王宏涛副教授二〇〇八年...
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工学硕士学位论文光栅尺高速高精度跨尺度位移测量方法的研究哈尔滨工业大学2008图书分类号：TH744.1U.D.C.：681.5工学硕士学位论文光栅尺高速高精度跨尺度位移测量方法的研究教授申请学位级别：工学硕士学科、专业：机械电子工程授予学位单位：哈尔滨工业大学ClassifiedIndex：TH744.1U.D.C...
学院：电子工程学院专业：电子科学与技术（光电方向）学生姓名：姜任毕业论文题目：基于FPGA的光栅尺四细分电路设计与研究光栅尺是上世纪70年代的新兴产品，随着电子技术和单片机技术的发展，光栅尺位移传感器在位移测量系统得到广泛应用。.随着...
计量圆光栅的原理、制造及其检测技术的研究.数字测量与数字控制，其应用正向着更加广泛的领域渗透。.论文曹先简述了诗霪圆光栅技术的发鼹历史，在诧基础上对计羹圆光栅技术在角度数字测量、运动比较i赆｛｝量、传动轴的扭转角测量等方藤的应用，计...
针对上述问题，本文围绕基于平面光栅尺的光刻机工件台位置测量技术开展研究，主要工作有：1.建立了基于平面光栅尺的光刻机工件台六自由度测量模型。.根据工件台的实际工作状态，设计工件台光栅尺测量系统布局，定义相关坐标系及安装误差，以扫描光...
光栅电子科技大学硕士学位论文尺读数头可以看成是一个非常紧凑的干涉系统，因此光栅尺的测量具有很好的稳定性，被更多地运用于工业实际中。光栅尺测量的分辨率依赖于光栅的栅距，光栅栅距越小，测量的分辨率越高。
关键词：光栅尺；辨向电路；运动控制1、光栅尺的结构光栅是利用光的反射、折射和干涉现象制成的一种光电检测装置，有物理光栅和计量光栅。物理光栅刻线较密，两刻线之间栅距在0.002mm～0.005mm之间，通常用于光谱分析和光波波长的测定。
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