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1全先荣;;贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析[J];科技创新与应用;2019年15期2;用于金属检测的自动产品转换装置[J];中国食品工业;1995年08期3;MS-2222型粉粒体用金属检测机[J];医药工程设计;2008年06期4梅特勒-托利多;;重力下落式金属检测机让污染物实现自由落体[J];中国包装工业;2013年15期
【摘要】：贵金属产品质量的现场抽样检测,是质量监督检验机构承担的一项重要工作。文章考察了采用便携式X射线荧光光谱仪作为现场抽样检测工作的筛选手段,实现了快速筛抽查样品的可能。与波长色散能量色散X射线荧光光谱仪比对试验结果表明,便携式X射线荧光光谱仪在贵金属产品现场抽样检测...
GB/T14505岩石和矿石化学分析方法总则及一般规定GB11887-89贵金属首饰纯度命名方法原理样品在原级X射线激发下，各元素产生各自的二次特征X射线（荧光）辐射。在激发条件一定的情况下，荧光辐射强度于盖元素在样品中的含量呈正比。
X射线荧光能谱法测定贵金属含量的测量不确定度分析.陈珊.研究了X射线荧光能谱法测定贵金属含量的不确定度来源,通过A类评定和B类评定方法建立了测量结果不确定度的评定程序,使测量结果更具有科学性,从而能够规范地、定量地进行产品合格判定...
x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述x射线荧光的分析，确定被测样品中各组份含量的仪器就是x射线荧光分析仪。用x射线荧光分析仪测量贵金属首饰含量是一种不接触、非破坏的测试方法。
2测量方法测量原理是贵金属首饰表层元素经X射线激发，发射出特征X射线荧光光谱，根据其特征谱线（能量或波长）进行定性分析。.不同元素的X射线荧光强度与其含量之间存在一定的线性关系。.随着待测元素的含量由低到高，这种线性关系由强到弱...
我想写一篇关于方法间的比对的论文！也就是X射线荧光光谱分析法与ICP法同时测贵金属含量的比较，比较哪个的灵敏度高，准确性高与稳定性好？两种方法比对的意义？求各位大神们解救！谢谢！
能量色散X射线荧光分析基本参数法研究与初步应用【硕士论文】.优秀论文&精品..分享于2011-03-0305:31:10.0.大量精品博士，硕士论文全文阅读及下载，论文,毕业论文,论文范文论文发表论文格式论文网，博士论文，硕士论文，学位论文，期刊论文.文档格式：.
【摘要】：X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析,本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X射线荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成...
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。
1全先荣;;贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析[J];科技创新与应用;2019年15期2;用于金属检测的自动产品转换装置[J];中国食品工业;1995年08期3;MS-2222型粉粒体用金属检测机[J];医药工程设计;2008年06期4梅特勒-托利多;;重力下落式金属检测机让污染物实现自由落体[J];中国包装工业;2013年15期
【摘要】：贵金属产品质量的现场抽样检测,是质量监督检验机构承担的一项重要工作。文章考察了采用便携式X射线荧光光谱仪作为现场抽样检测工作的筛选手段,实现了快速筛抽查样品的可能。与波长色散能量色散X射线荧光光谱仪比对试验结果表明,便携式X射线荧光光谱仪在贵金属产品现场抽样检测...
GB/T14505岩石和矿石化学分析方法总则及一般规定GB11887-89贵金属首饰纯度命名方法原理样品在原级X射线激发下，各元素产生各自的二次特征X射线（荧光）辐射。在激发条件一定的情况下，荧光辐射强度于盖元素在样品中的含量呈正比。
X射线荧光能谱法测定贵金属含量的测量不确定度分析.陈珊.研究了X射线荧光能谱法测定贵金属含量的不确定度来源,通过A类评定和B类评定方法建立了测量结果不确定度的评定程序,使测量结果更具有科学性,从而能够规范地、定量地进行产品合格判定...
x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述x射线荧光的分析，确定被测样品中各组份含量的仪器就是x射线荧光分析仪。用x射线荧光分析仪测量贵金属首饰含量是一种不接触、非破坏的测试方法。
2测量方法测量原理是贵金属首饰表层元素经X射线激发，发射出特征X射线荧光光谱，根据其特征谱线（能量或波长）进行定性分析。.不同元素的X射线荧光强度与其含量之间存在一定的线性关系。.随着待测元素的含量由低到高，这种线性关系由强到弱...
我想写一篇关于方法间的比对的论文！也就是X射线荧光光谱分析法与ICP法同时测贵金属含量的比较，比较哪个的灵敏度高，准确性高与稳定性好？两种方法比对的意义？求各位大神们解救！谢谢！
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【摘要】：X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析,本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X射线荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成...
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。
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