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封装技术杜瓦组件长波碲镉汞红外焦平面杂散光热失配应力学位专业微电子学与固体电子学英文摘要红外焦平面杜瓦组件封装技术，是指将研制成功的带有读出电路的红外焦平面列阵组装到杜瓦中的一段工艺，是推动红外焦平面探测器应用的必不可少的关键
EAST超导托卡马克装置外真空杜瓦容器的制造-本文介绍了中国科学院等离子体物理研究所EAST(HT-7U)...顶盖组件（1由封头，图）直段简体和若干个异形窗口构成。封头为非标碟形，曲率半径R6136mm，冠内半径RO0...
图10合肥低温电子研究所的三光窗斯特林制冷机杜瓦组件Fig.10ThreeopticalwindowsStirlingcryocoolerdewar昆明物理所在长期研究开发的基础上，于990年代引进国外的旋转电机驱动分置式斯特林制冷机，并对制冷机的旋转无刷电机、分置式、冷
2000年初,该所完成国内第一个采用制冷机杜瓦集成式组件,其中包0.5W/80直线驱动分置式斯特林制冷机。机器的技术性能达到了进口样机的水平。合肥低温电子研究所在没有国外样机参考情况下,于2003年制成一种0.8W/80分置式斯特林制冷机,两台样机在始终加热负载0.52005年底完成4000…
SADA组件标准包括红外焦平面探测器、杜瓦、驱动控制和低温制冷机等部件。为支持SADA系列标准组件的发展，美军夜视传感器部门（NVESD）还制定了一个完整的军用线性斯特林制冷机系列。
杜瓦除了为系统运行提供稳定的真空环境之外，还要在氦气泄漏以及等离子体破裂等极端情况下，必须保证整个装置的安全。据悉，当地时间5月28日，ITER的真空杜瓦基座平稳地落位到该装置基坑内的临时支撑上，杜瓦基座吊装工作完成，正是由此开始，拉开了ITER主设备安装的序幕。
华中科技大学硕士学位论文红外焦平面阵列组件探测器的测试研究姓名：王群申请学位级别：硕士专业：控制工程指导教师：叶林20061104华中科技大学硕士学位论文红外技术具有隐蔽性好，抗干扰能力强和检测精度高等优点，所以被广泛地应用于多种领域中。
5昆明物理研究所微型低温技术的发展情况昆明物理研究所在一代通用组件热成像仪的研制工程中，低温制冷器技术与杜瓦技术是作为的通用组件进行发展，与探测器的发展协调配合，取得了巨大的成功，节流制冷器可批量生产，并应用于第一代I类热
红外探测器杜瓦组件是制冷型红外成像系统的一个重要组成部分.在探测器杜瓦中，常用冷屏来限制探测器在各尺度上的立体角.探测器和冷屏的几何构造控制了外部场景(目标和背景)在探测器上的辐照度.冷屏有各种形式的孔径，除了圆形孔径有解析公式以外，其他形式的冷屏对应的视场角一般需要做...
大面阵红外探测器是红外遥感仪器的核心元件.该类探测器大多由小规模面阵探测器拼接组成,与杜瓦低温冷平台集成后形成杜瓦组件.探测器在杜瓦低温冷平台上安装集成后的应力状态是影响芯片性能和寿命的关键因素.测试了低温时探测器在自由状态下和被安装在...
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2000年初,该所完成国内第一个采用制冷机杜瓦集成式组件,其中包0.5W/80直线驱动分置式斯特林制冷机。机器的技术性能达到了进口样机的水平。合肥低温电子研究所在没有国外样机参考情况下,于2003年制成一种0.8W/80分置式斯特林制冷机,两台样机在始终加热负载0.52005年底完成4000…
SADA组件标准包括红外焦平面探测器、杜瓦、驱动控制和低温制冷机等部件。为支持SADA系列标准组件的发展，美军夜视传感器部门（NVESD）还制定了一个完整的军用线性斯特林制冷机系列。
杜瓦除了为系统运行提供稳定的真空环境之外，还要在氦气泄漏以及等离子体破裂等极端情况下，必须保证整个装置的安全。据悉，当地时间5月28日，ITER的真空杜瓦基座平稳地落位到该装置基坑内的临时支撑上，杜瓦基座吊装工作完成，正是由此开始，拉开了ITER主设备安装的序幕。
华中科技大学硕士学位论文红外焦平面阵列组件探测器的测试研究姓名：王群申请学位级别：硕士专业：控制工程指导教师：叶林20061104华中科技大学硕士学位论文红外技术具有隐蔽性好，抗干扰能力强和检测精度高等优点，所以被广泛地应用于多种领域中。
5昆明物理研究所微型低温技术的发展情况昆明物理研究所在一代通用组件热成像仪的研制工程中，低温制冷器技术与杜瓦技术是作为的通用组件进行发展，与探测器的发展协调配合，取得了巨大的成功，节流制冷器可批量生产，并应用于第一代I类热
红外探测器杜瓦组件是制冷型红外成像系统的一个重要组成部分.在探测器杜瓦中，常用冷屏来限制探测器在各尺度上的立体角.探测器和冷屏的几何构造控制了外部场景(目标和背景)在探测器上的辐照度.冷屏有各种形式的孔径，除了圆形孔径有解析公式以外，其他形式的冷屏对应的视场角一般需要做...
大面阵红外探测器是红外遥感仪器的核心元件.该类探测器大多由小规模面阵探测器拼接组成,与杜瓦低温冷平台集成后形成杜瓦组件.探测器在杜瓦低温冷平台上安装集成后的应力状态是影响芯片性能和寿命的关键因素.测试了低温时探测器在自由状态下和被安装在...
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