几种半导体材料的光电子能谱研究Studyseveralkindssemiconductormaterialviaphotoelectronspectroscopy作者姓名:管和松专业名称:微电子学与固体电子学研究方向:半导体表面分析指导教师:杜国同教授学位类别:理学博士培养单位:电子科学与工程学院论文答辩日期:2009未经本论文作者的书面授权,依法收存和保管本论文书面版本、电子版本的任何单位和个人,均不...
X射线光电子能谱仪论文.doc,X射线光电子能谱分析1引言固体表面分析业已发展为一种常用的仪器分析方法,特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。
[6]参考文献:《俄歇电子能谱仪及其应用》《俄歇能谱的基本原理及应用》任大刚《俄歇电子能谱简介》赵良仲《俄歇电子能谱分析方法及其应用》王文生天津大学《俄歇电子谱及其应用》《微纳尺度表征的俄歇电子能谱新技术》徐富春厦门大学《俄歇电子
博士毕业论文—《基于钙钛矿太阳能电池界面结构的原位光电子能谱研究》摘要第1-7页ABSTRACT第7-12页附录专有名词缩与表第12-13页第1章绪论第13-39页
本论文利用角分辨光电子能谱技术,对稀土元素掺杂的“122”体系的(Ca,Pr)Fe铁基超导体、分别用分子束外延方法和脉冲激光沉积的方法的铁硒薄膜材料,以及CePt介绍了超导的发现以及高温超导体的发现及发展,铜氧化物高温超导体的晶体结构、电子相图
最新博士论文—《利用光电子能谱和扫描隧道显微镜研究卤代芳烃分子表面反应的机理》摘要第1-7页abstract第7-12页第1章绪论第12-42页1.1引言第12-14页1.2前驱体分子的设计
一、X光电子能谱分析的基本原理.X光电子能谱分析的基本原理:一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。.该过程可用下式表示:.hn=Ek+Eb+Er(1).其中:hn:X光子的能量;Ek:光电子的能量;Eb:电子…
博士毕业论文—《应用同步辐射光电子能谱等表面科学技术原位研究Cu基模型催化剂的结构与稳定性》摘要第1-7页ABSTRACT第7-12页附录专有名词缩写表第12-13页第1章绪论第13-41页
原子力显微镜与X射线光电子能谱对ITO表面改性的研究,氧化铟锡薄膜,表面改性,原子力显微镜,X射线光电子能谱。采用氧气等离子体(OP)处理对氧化铟锡(ITO)薄膜进行表面改性,通过原子力显微镜(AFM)、X射线光电子能谱(XPS)...
博士学位论文角分辨光电子能谱在拓扑材料研究中的应用作者姓名:副研究员中国科学院物理研究所学位类别:理学博士学科专业:凝聚态物理研究所:中国科学院物理研究所2017Angle-resolvedphotoemissionspectroscopystudytopologicalmaterials...
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X射线光电子能谱仪论文.doc,X射线光电子能谱分析1引言固体表面分析业已发展为一种常用的仪器分析方法,特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。
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本论文利用角分辨光电子能谱技术,对稀土元素掺杂的“122”体系的(Ca,Pr)Fe铁基超导体、分别用分子束外延方法和脉冲激光沉积的方法的铁硒薄膜材料,以及CePt介绍了超导的发现以及高温超导体的发现及发展,铜氧化物高温超导体的晶体结构、电子相图
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博士学位论文角分辨光电子能谱在拓扑材料研究中的应用作者姓名:副研究员中国科学院物理研究所学位类别:理学博士学科专业:凝聚态物理研究所:中国科学院物理研究所2017Angle-resolvedphotoemissionspectroscopystudytopologicalmaterials...