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在国内外的相关研究中，虽然关于等倾干涉和等倾干涉都有相关的探讨，但是能将两者的异同点系统化地加以比较的并不多见。而且国内的文献中较少有将等倾干涉和等厚干涉基本原理与相关应用结合进行系统研究。
光学干涉实验的计算机大学_本科论文xxx职业技术师范大学xxxUniversityofTechnologyandEducation毕业设计专业：XXXXXX班级学号：XXXXXXXX学生姓名：XXXXX指导教师：XXXXXXX二〇一三年六月xx职业技术师范大学本科生毕业...
薄膜干涉是大学物理和光学课程中一种非常重要的光学现象,薄膜干涉可以分为等倾干涉和等厚干涉。该文针对等倾干涉条纹和牛顿环的形成原理和特点进行了分析,比较了这两种明暗相间的同心圆环条纹的半径和间距、条纹的级次、条纹的移动规律,得出了这两种形状相似而实质不同
关键词：等倾干涉等厚干涉牛顿环干涉条纹中图分类号：O436.1文献标识码：A文章编号：1672-3791（2020）01（a）-0227-02薄膜干涉作为光的一种干涉现象，应用非常广泛，可用于光学元件表面的检验、长度或角度的精密测量及高分辨率的光谱分析[1]。
等厚干涉的牛顿环，可以测量凸凹透镜的平整程度，测量透镜曲率半径等等。此外，肥皂泡表面的彩色条纹，眼镜片，相机镜头的各种增透镀膜都是来源于等厚干涉。薄膜干涉分为两种一种叫等倾干涉，另一种称做等厚干涉。
结果表明：等倾干涉性质的应用广泛，定域和非定域等倾干涉的有异同点。该论文符合学术论文的基本要求，用语、格式、图表、数据、量和单位、各种资料引用规范化、符合标准。论文写作水平达到要求，论点鲜明；论据充分；条理清晰；语言流畅。
【摘要】：干涉仪是应用干涉测量技术对光学材料、元件、系统的各种参量进行高精度测量的光学测试仪器。针对单个干涉仪应用范围受限的问题,本论文研究了一种利用变焦系统能根据测量需求实现等厚干涉和等倾干涉之间切换的复合型干涉仪,为研制更高性能的干涉仪进行一定的理论基础研究及...
论文撷英联系我们English››2013,Vol.32››Issue(12):34-34.•著者文摘•上一篇下一篇牛顿环与等倾干涉教学中的一点体会上海理工大学理学院,上海20093出版日期:2013-12-25发布日期:2013-12-20Thesimilaritiesanddifferencesoffringesofequal...
迈克尔逊等倾干涉法晶体折射率测量方法研究.【摘要】：折射率是晶体的一个基本参数,是研究晶体其它光学性质的基础。.对于同一晶体,不同波长对应不同的折射率,其测量值对器件设计至关重要。.对新研制生长的晶体材料往往需对其折射率进行测量以研究其...
在国内外的相关研究中，虽然关于等倾干涉和等倾干涉都有相关的探讨，但是能将两者的异同点系统化地加以比较的并不多见。而且国内的文献中较少有将等倾干涉和等厚干涉基本原理与相关应用结合进行系统研究。
光学干涉实验的计算机大学_本科论文xxx职业技术师范大学xxxUniversityofTechnologyandEducation毕业设计专业：XXXXXX班级学号：XXXXXXXX学生姓名：XXXXX指导教师：XXXXXXX二〇一三年六月xx职业技术师范大学本科生毕业...
薄膜干涉是大学物理和光学课程中一种非常重要的光学现象,薄膜干涉可以分为等倾干涉和等厚干涉。该文针对等倾干涉条纹和牛顿环的形成原理和特点进行了分析,比较了这两种明暗相间的同心圆环条纹的半径和间距、条纹的级次、条纹的移动规律,得出了这两种形状相似而实质不同
关键词：等倾干涉等厚干涉牛顿环干涉条纹中图分类号：O436.1文献标识码：A文章编号：1672-3791（2020）01（a）-0227-02薄膜干涉作为光的一种干涉现象，应用非常广泛，可用于光学元件表面的检验、长度或角度的精密测量及高分辨率的光谱分析[1]。
等厚干涉的牛顿环，可以测量凸凹透镜的平整程度，测量透镜曲率半径等等。此外，肥皂泡表面的彩色条纹，眼镜片，相机镜头的各种增透镀膜都是来源于等厚干涉。薄膜干涉分为两种一种叫等倾干涉，另一种称做等厚干涉。
结果表明：等倾干涉性质的应用广泛，定域和非定域等倾干涉的有异同点。该论文符合学术论文的基本要求，用语、格式、图表、数据、量和单位、各种资料引用规范化、符合标准。论文写作水平达到要求，论点鲜明；论据充分；条理清晰；语言流畅。
【摘要】：干涉仪是应用干涉测量技术对光学材料、元件、系统的各种参量进行高精度测量的光学测试仪器。针对单个干涉仪应用范围受限的问题,本论文研究了一种利用变焦系统能根据测量需求实现等厚干涉和等倾干涉之间切换的复合型干涉仪,为研制更高性能的干涉仪进行一定的理论基础研究及...
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迈克尔逊等倾干涉法晶体折射率测量方法研究.【摘要】：折射率是晶体的一个基本参数,是研究晶体其它光学性质的基础。.对于同一晶体,不同波长对应不同的折射率,其测量值对器件设计至关重要。.对新研制生长的晶体材料往往需对其折射率进行测量以研究其...
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