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一款验证标准单元库功能与延迟测量的芯片circuitstoverifyastandardcelllibraryfunctionanddelay.pdf,L—一设计巾国集成电路glCChinaCircuitIntegrated黄璐，王浩(无锡华润上华半导体有限公司上海分公司，上海201103)摘要：本文设计了一款...
1姚龙;梁斌;马驰远;;一种标准单元库时序逻辑电路功能验证方法[A];第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛论文集（上册）[C];2013年2喻鑫;梁斌;郭阳;;一种标准单元库组合电路功能验证的方法及其程序设计[A];第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛论文集（上册...
1．2论文主要工作本论文主要工作是在SMIC公司的65nm工艺条件下，设计一款通用I／O单元库，包含数字输入／输出单元、模拟输入／输出单元、电源单元、电源切断单元。确保该I／O单元库中输入／输出单元符合JEDEC标准，在
1姚龙;梁斌;马驰远;;一种标准单元库时序逻辑电路功能验证方法[A];第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛论文集（上册）[C];2013年2喻鑫;梁斌;郭阳;;一种标准单元库组合电路功能验证的方法及其程序设计[A];第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛论文集（上册...
硕士论文答辩—《0.13μmSMIC抗辐照单元库的设计及验证》摘要第1-6页ABSTRACT第6-11页符号对照表第11-12页缩略语对照表第12-15页第一章绪论
湖南大学硕士学位论文40nm可制造标准单元库的设计与实现姓名：周宠申请学位级别：硕士专业：微电子学与固体电子学指导教师：曾健平2012052740nm可制造标准单元库的设计与实现摘要目前，系统设计都采用白顶向下的设计方法，而标准单元库在该设计方法中起到了重要的作用。
1.2相关验证技术的研究为了确保一款芯片能够正常的运转以及性能达到指标，我们在设计过程中需要对功能和时序两方面进行充分的验证。所谓功能验证就是证明设计功能正确性的过程。传统的功能验证分为模拟验证和形式验证两大类。
·论文内容与结构第17-20页第二章功能验证技术和方法学第20-38页·验证的概念第20-21页·验证面临的问题第21-22页·功能验证技术和方法第22-26页·验证技术第22-24页·验证方法第24-26页·SystemVerilog验证
点击上面“蓝字”关注我们！本公众号现已更名为【单元库特征化及建库技术】，欢迎关注。本文主要介绍单元库建库几个常用的flow。从大类上分，主要有三种常见的flow，分别是re-charac...
在输入单元部分,增加施密特触发功能,提高对输入信号的噪声抵抗能力,设计耐高压模块,保护输出级反相器不会因PAD上输入大电压而产生漏电流,并设计降压模块,使2.5V输入信号降为1.2V供内部电路使用。
一款验证标准单元库功能与延迟测量的芯片circuitstoverifyastandardcelllibraryfunctionanddelay.pdf,L—一设计巾国集成电路glCChinaCircuitIntegrated黄璐，王浩(无锡华润上华半导体有限公司上海分公司，上海201103)摘要：本文设计了一款...
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1．2论文主要工作本论文主要工作是在SMIC公司的65nm工艺条件下，设计一款通用I／O单元库，包含数字输入／输出单元、模拟输入／输出单元、电源单元、电源切断单元。确保该I／O单元库中输入／输出单元符合JEDEC标准，在
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1.2相关验证技术的研究为了确保一款芯片能够正常的运转以及性能达到指标，我们在设计过程中需要对功能和时序两方面进行充分的验证。所谓功能验证就是证明设计功能正确性的过程。传统的功能验证分为模拟验证和形式验证两大类。
·论文内容与结构第17-20页第二章功能验证技术和方法学第20-38页·验证的概念第20-21页·验证面临的问题第21-22页·功能验证技术和方法第22-26页·验证技术第22-24页·验证方法第24-26页·SystemVerilog验证
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在输入单元部分,增加施密特触发功能,提高对输入信号的噪声抵抗能力,设计耐高压模块,保护输出级反相器不会因PAD上输入大电压而产生漏电流,并设计降压模块,使2.5V输入信号降为1.2V供内部电路使用。
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