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论文即针对成品率这一问题展开,内容为集成电路成品率预测技术研究。在半导体行业,成品率定义为在一次投产中,产出满足性能要求的芯片在芯片生产总数中所占的比例。成品率关系到制造成本和收益,因此直接影响一个集成电路项目的成败。
集成电路成品率预测技术的的研究.pdf,摘要摘要在过去的几十年中，半导体制造技术一直沿着摩尔定律飞速发展。现今最先进集成电路设计中的关键尺寸已经达到了22rim，远低于光刻工艺中的光源波长。新工艺技术的引入以及制造环境因素开始剧烈的影响到集成电路的可靠性和成品率。
影响拉晶成品率的因素和处理拉晶成品率,成品率,与拉晶,成品率的单晶技术一部主要内容主要内容一、成品率的计算定义二、影响拉晶成品率的主要因素和处理措施三、提高成品率的思路一、成品率的计算定义1、单晶成品率=产量/投料量2、产量计算产量=长度(单位mm）/系数6.5寸单晶系…
注射剂成品率提高方案影响小容量注射剂车间小容量注射液灯检合格率的原因分析及提高灯检合格率方案车间所生产的注射液成品收率不高，影响成品收率的因素有：中间产品、待包装产品、成品取样检验，系2.隧道烘箱网带实行每批生产前、生产后擦拭清洁...
集成电路参数成品率的预测与优化技术研究.【摘要】：本文对集成电路(IC)制造过程中的参数成品率问题进行了系统的研究，主要贡献和结果如下：在中心值设计和容差分配的基础上，提出了一种IC参数成品率的中心值设计和容差分配的耦合求解最优化方法...
硕士学位论文（专业学位）学寝代码：10246号：T022021032大芯片高栅压CMOS器件工艺开发和成品率提升指导教师：郑国祥教授龚大卫教授完成日期：2005年4月20日勿垒支公布．摘要小工艺是通过技术转移在上海先进半导体公司丌发的‘种CMOS上艺，本工艺具有大芯片高栅压的特点。
223.28K.文档热度：.文档分类：.论文--期刊/会议论文.文档标签：.影响管理铝箔控制方法率的方法原因影响铝箔的影响铝箔因素重要因素.系统标签：.铝箔成品率毛料轧制管芯控制.
纳米工艺集成电路成品率专用测试结构设计方法研究.陈利生.【摘要】：集成电路进入纳米工艺时代以来,工艺复杂度越来越高,新材料、新器件不断被引入,制造工艺偏差的影响不断增大,这些新问题的出现给纳米工艺下成品率预测和测试结构设计带来了新的挑战...
本文深入研究了电路性能参数建模与参数成品率估计这两个模拟集成电路设计自动化及其成品率优化的关键问题，具体的研究内容包括以下几点：1.在分析了模拟电路设计的特点及其对器件模型要求的基础上，本文提出了一种直流工作点驱动MOS器件参数宏模型...
硕士论文答辩—《SoC芯片测试效率和成品率的研究和应用》摘要第1-5页Abstract第5-6页第一章绪论第6-8页第二章SOC芯片测试综述第8-25页
论文即针对成品率这一问题展开,内容为集成电路成品率预测技术研究。在半导体行业,成品率定义为在一次投产中,产出满足性能要求的芯片在芯片生产总数中所占的比例。成品率关系到制造成本和收益,因此直接影响一个集成电路项目的成败。
集成电路成品率预测技术的的研究.pdf,摘要摘要在过去的几十年中，半导体制造技术一直沿着摩尔定律飞速发展。现今最先进集成电路设计中的关键尺寸已经达到了22rim，远低于光刻工艺中的光源波长。新工艺技术的引入以及制造环境因素开始剧烈的影响到集成电路的可靠性和成品率。
影响拉晶成品率的因素和处理拉晶成品率,成品率,与拉晶,成品率的单晶技术一部主要内容主要内容一、成品率的计算定义二、影响拉晶成品率的主要因素和处理措施三、提高成品率的思路一、成品率的计算定义1、单晶成品率=产量/投料量2、产量计算产量=长度(单位mm）/系数6.5寸单晶系…
注射剂成品率提高方案影响小容量注射剂车间小容量注射液灯检合格率的原因分析及提高灯检合格率方案车间所生产的注射液成品收率不高，影响成品收率的因素有：中间产品、待包装产品、成品取样检验，系2.隧道烘箱网带实行每批生产前、生产后擦拭清洁...
集成电路参数成品率的预测与优化技术研究.【摘要】：本文对集成电路(IC)制造过程中的参数成品率问题进行了系统的研究，主要贡献和结果如下：在中心值设计和容差分配的基础上，提出了一种IC参数成品率的中心值设计和容差分配的耦合求解最优化方法...
硕士学位论文（专业学位）学寝代码：10246号：T022021032大芯片高栅压CMOS器件工艺开发和成品率提升指导教师：郑国祥教授龚大卫教授完成日期：2005年4月20日勿垒支公布．摘要小工艺是通过技术转移在上海先进半导体公司丌发的‘种CMOS上艺，本工艺具有大芯片高栅压的特点。
223.28K.文档热度：.文档分类：.论文--期刊/会议论文.文档标签：.影响管理铝箔控制方法率的方法原因影响铝箔的影响铝箔因素重要因素.系统标签：.铝箔成品率毛料轧制管芯控制.
纳米工艺集成电路成品率专用测试结构设计方法研究.陈利生.【摘要】：集成电路进入纳米工艺时代以来,工艺复杂度越来越高,新材料、新器件不断被引入,制造工艺偏差的影响不断增大,这些新问题的出现给纳米工艺下成品率预测和测试结构设计带来了新的挑战...
本文深入研究了电路性能参数建模与参数成品率估计这两个模拟集成电路设计自动化及其成品率优化的关键问题，具体的研究内容包括以下几点：1.在分析了模拟电路设计的特点及其对器件模型要求的基础上，本文提出了一种直流工作点驱动MOS器件参数宏模型...
硕士论文答辩—《SoC芯片测试效率和成品率的研究和应用》摘要第1-5页Abstract第5-6页第一章绪论第6-8页第二章SOC芯片测试综述第8-25页
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