am是Advanced Materials杂志，是工程与计算大学科、材料与化学大领域（包含材料化学，材料物理，生物材料，纳米材料，光电材料，金属材料，无机非金属材料，电子材料等等非常多的子学科，以及非常大量与材料相关的研究领域）的顶尖期刊，在国际材料领域科研界上享誉盛名。
国际上权威杂志及其影响因子排名：
1、杂志名称：Nature Reviews Materials；译：自然评论材料；影响因子：74.449。
2、杂志名称：Nature Energy；译：自然能源；影响因子：54。
3、杂志名称：NATURE MATERIALS；译：自然材料；影响因子：38.887。
4、杂志名称：Nature Nanotechnology；译：自然纳米技术；影响因子：33.407。
5、杂志名称：ADVANCED MATERIALS；译：新材料；影响因子：25.809。
6、杂志名称：Advanced Energy Materials；译：先进能源材料；影响因子：24.884。
am文章是SCI材料学1区期刊。
Advanced Materials文章（以下简称AM），是工程与计算大学科、材料与化学大领域（包含材料化学，材料物理，生物材料，纳米材料，光电材料，金属材料，无机非金属材料，电子材料等等非常多的子学科，以及非常大量与材料相关的研究领域）的顶尖期刊。
SCI简介：
《科学引文索引》（Science Citation Index，SCI ）美国科学信息研究所（ ISI）的尤金·加菲尔德（Eugene Garfield）于1957 年在美国费城创办的引文数据库。
SCI（科学引文索引）、EI（工程索引）、ISTP（科技会议录索引）是世界著名的三大科技文献检索系统，是国际公认的进行科学统计与科学评价的主要检索工具。
aem和am期刊的区别如下:
aem杂志从材料的角度关注能源的研究，涉及广泛的研究范围，涵盖与能源相关的研究，包括光伏，电池，超级电容器，燃料电池，氢能技术，热电，光催化，太阳能技术，磁致冷和压电材料等领域。
am杂志是工程与计算大学科、材料与化学大领域（包含材料化学，材料物理，生物材料，纳米材料，光电材料，金属材料，无机非金属材料，电子材料等等非常多的子学科，以及非常大量与材料相关的研究领域）的顶尖期刊，在国际材料领域科研界上享誉盛名。
杂志有：
1、《Nature Reviews Materials》《自然评论材料》
2、《Nature Energy》《自然能量》
3、《NATURE MATERIALS》《自然材料》
4、《Nature Nanotechnology》《自然纳米技术》
5、《ADVANCED MATERIALS》《先进材料》
6、《Advanced Energy Materials》《先进能源材料》
7、《Materials Today》《今日材料》
8、《PROGRESS IN MATERIALS SCIENCE》《材料科学进展》
9、《MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING R-REPORTS》《材料科学与工程研究报告》
10、《INTERNATIONAL MATERIALS REVIEWS》《国际材料评论》
AFM：ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS；原子力显微镜
AM：Advanced Materials；先进材料
扩展资料
AFM优点：
原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描，从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。
与常规显微镜比较，原子力显微镜的优点是在大气条件下，以高倍率观察样品表面，可用于几乎所有样品（对表面光洁度有一定要求），而不需要进行其他制样处理，就可以得到样品表面的三维形貌图象。并可对扫描所得的三维形貌图象进行粗糙度计算、厚度、步宽、方框图或颗粒度分析。具体如下：
1、高分辨力能力远远超过扫描电子显微镜（SEM），以及光学粗糙度仪。样品表面的三维数据满足了研究、生产、质量检验越来越微观化的要求。
2、非破坏性，探针与样品表面相互作用力为10－8N以下，远比以往触针式粗糙度仪压力小，因此不会损伤样品，也不存在扫描电子显微镜的电子束损伤问题。另外扫描电子显微镜要求对不导电的样品进行镀膜处理，而原子力显微镜则不需要。
3、应用范围广，可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。
4、软件处理功能强，其三维图象显示其大小、视角、显示色、光泽可以自由设定。并可选用网络、等高线、线条显示。图象处理的宏管理，断面的形状与粗糙度解析，形貌解析等多种功能。
参考资料：百度百科-AFM（原子力显微镜）
学光杂志，AFM全称Atomic Force Microscope，AM全称为：Advanced Materials。
AFM即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。
现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中。
Advanced Materials是工程与计算大学科、材料与化学大领域（包含材料化学，材料物理，生物材料，纳米材料，光电材料，金属材料，无机非金属材料，电子材料等等非常多的子学科，以及非常大量与材料相关的研究领域）的顶尖期刊，在国际材料领域科研界上享誉盛名。
其他：
AFM优点：
原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描，从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。
AFM原理：
当原子间距离减小到一定程度以后，原子间的作用力将迅速上升。因此，由显微探针受力的大小就可以直接换算出样品表面的高度，从而获得样品表面形貌的信息。
以上内容参考：Advanced Materials-百度百科
