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ATE测试向量转换方法研究. 陈辉. 【摘要】： 随着半导体技术的飞速发展,集成电路的设计规模和复杂度不断提高,芯片测试所必需的测试向量变得十分庞大,相应的测试时序也越来越复杂,测试开发工作变得十分困难。. 电子设计自动化 (EDA)工具产生的仿真向量 (Test ...
周煜,周煜 中文主页,北京航空航天大学教师个人主页系统,周煜，男，1980年4月生，辽宁鞍山人，工学博士，副教授，硕士研究生导师，博士研究生导师。2007年9月博士毕业于北京航空航天大学交通科学与工程学院车辆工...
电子资源平台. 语种 ： 外文. 学科 ： 人文 , 社会. 首字母 ： W. 资源状态 ： 常用资源 , 已购资源. 美国科学信息研究所（Institute for Scientific Information，ISI）是世界著名的学术信息出版机构，它所编制的三大引文数据库（Web of Science）由三个独立的数据库组成 ...
Communications in Statistics - Simulation and Computation期刊最新论文，,顶级期刊最新论文图文内容，出版社网站每日同步更新，点击标题直达论文原文，自定义关注的期刊，覆盖PubMed的论文库，快速方便精准的找到您想要的论文
ATE我不太熟悉，据说审稿较快，是一个不错的期刊。ATE的命中率应该会比APEN高，毕竟APEN的今年IF已经超过5了，而ATE目前还不到3。投稿的论文写在简历上就标注In Review就好了，没有问题的，谁也不能保证投出去的论文一定会录用。
豆丁网是面向全球的中文社会化阅读分享平台，拥有商业,教育,研究报告,行业资料,学术论文,认证考试,星座,心理学等数亿实用 ...
3. 效率是各项指标的综合度量。首先提出度量自动测试设备(ATE)效率的8项技术指标:故障检测率FDR、故障隔离率FIR、检测准确度FDA、测试时间t_d、故障检测概率P_d、故障漏报 ...
半导体测试是半导体生产过程中的重要环节，其中，测试机是检测芯片功能和性能的专用设备。 对于需要高性能、高性价比解决方案的 IC 测试应用，ADI 提供整体的解决方案包括集成式引脚电子器件 (PE)、器件电源 (DPS) 和参数测量单元 (PMU)。
ATE测试中抖动对高性能ADC测试结果的影响与分析[J].电子技术应用，2016，42(7)：46-49. 英文引用格式： Yu Kun. Effect and analysis of jitter on high performance ADC in ATE testing[J].Application of …
IC测试基本原理与ATE测试向量生成. [导读] 集成电路测试 (IC测试)主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。. 随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越 ...
ATE测试向量转换方法研究. 陈辉. 【摘要】： 随着半导体技术的飞速发展,集成电路的设计规模和复杂度不断提高,芯片测试所必需的测试向量变得十分庞大,相应的测试时序也越来越复杂,测试开发工作变得十分困难。. 电子设计自动化 (EDA)工具产生的仿真向量 (Test ...
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