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中国期刊网,期刊,杂志,读者服务,电子杂志,论文,文库,期刊网,电子刊 熊建全 上海闵行市政建设有限公司201109 摘要：本文分析了无机保温砂浆保温楼地面开裂的原因，并对其改进的有效措施进行了分 …
下图是锂还原TiO2纳米颗粒的XPS图（Nature Communications，2018，9：1302）。三个典型的XPS峰在~530.6、531.9和532.8ev，分别标记为O1、O2和O3，分别归因于晶格氧、氧缺陷和表面吸附的氧物种。
用X射线光电子能谱(XPS)研究新鲜Nd表面在不同氧气和空气进气量的情况下,表面氧化物的生长过程.发现氧化层由氧化物、氢氧化物及表面化学吸附水三种成分,这三种成分的增加与进气量都存在正比对数关系,氧化物和吸附水在一定进气量后趋于饱和,而氢氧化物持续不断增加,最终氢氧化物占据主要地位.
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硅—二氧化硅界面过渡区的XPS研究. 1. (1) 复旦大学现代物理研究所 机构 ; (2)上海石油化工总厂研究院. 摘要: 本文报道了用X射线光电子能谱的角度效应研究硅-二氧化硅界面过渡区的结果。. 样品为 (111)取向的硅单晶片上低温 (700℃)氧化生成的超薄氧化膜,膜的厚度 ...
XPS谱图分析——卫星线 X射线的卫星线： 用来照射样品的单色x射线并非单色，常规Al/Mg Kα1,2 射线里混杂能量略高的Kα3,4,5,6 和Kβ射线，它们分别是阳极材料原子中的L2和L3能级上的6个状态不同的电子和M 能级的电子跃迁到K 层上产生的荧光X …
有关XPS的表征. 作者 664426chun. 来源: 小木虫 250 5 举报帖子. +关注. 求助：不同形貌的两种样品（花状和片状），在xps的表征过程中，发现相同元素的峰，片状结构的峰比较尖锐，该怎么解释这个现象？. 见下图。. XPS峰的半峰宽与哪些因素有关？. Graph1.PNG 返回小木 ...
X射线光电子能谱是分析物质表面化学性质的一项技术。XPS可测量材料中元素组成、经验公式、元素化学态和电子态。用一束X射线激发固体表面，同时测量被分析材料表面1－10nm内发射出电子的动能，而得到XPS谱。
探测深度与材料及测试时的参数选择影响很大，总体来说，EDS与XRF测试固体时均可达微米级，XRF测液体时探测深度可达毫米级或更高。. 3 FTIR－ATR为红外反射光谱，探测深度与波长等因素有关，也是微米级别，但即使同一张谱图探测深度也会随波数变化。. 更多 ...
期刊 发现 社区 招聘老师 当前位置： 首页 > 晶体 > 有关XPS 的分析 有关XPS的分析 作者 664426chun 来源: 小木虫 500 10 举报帖子 +关注 最近做了一系列的样品，通过XPS的表征可以看出，同一种元素在不同样品中其对应的峰强度不同，请问XPS的峰强度与 ...
中国期刊网,期刊,杂志,读者服务,电子杂志,论文,文库,期刊网,电子刊 熊建全 上海闵行市政建设有限公司201109 摘要：本文分析了无机保温砂浆保温楼地面开裂的原因，并对其改进的有效措施进行了分 …
下图是锂还原TiO2纳米颗粒的XPS图（Nature Communications，2018，9：1302）。三个典型的XPS峰在~530.6、531.9和532.8ev，分别标记为O1、O2和O3，分别归因于晶格氧、氧缺陷和表面吸附的氧物种。
用X射线光电子能谱(XPS)研究新鲜Nd表面在不同氧气和空气进气量的情况下,表面氧化物的生长过程.发现氧化层由氧化物、氢氧化物及表面化学吸附水三种成分,这三种成分的增加与进气量都存在正比对数关系,氧化物和吸附水在一定进气量后趋于饱和,而氢氧化物持续不断增加,最终氢氧化物占据主要地位.
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硅—二氧化硅界面过渡区的XPS研究. 1. (1) 复旦大学现代物理研究所 机构 ; (2)上海石油化工总厂研究院. 摘要: 本文报道了用X射线光电子能谱的角度效应研究硅-二氧化硅界面过渡区的结果。. 样品为 (111)取向的硅单晶片上低温 (700℃)氧化生成的超薄氧化膜,膜的厚度 ...
XPS谱图分析——卫星线 X射线的卫星线： 用来照射样品的单色x射线并非单色，常规Al/Mg Kα1,2 射线里混杂能量略高的Kα3,4,5,6 和Kβ射线，它们分别是阳极材料原子中的L2和L3能级上的6个状态不同的电子和M 能级的电子跃迁到K 层上产生的荧光X …
有关XPS的表征. 作者 664426chun. 来源: 小木虫 250 5 举报帖子. +关注. 求助：不同形貌的两种样品（花状和片状），在xps的表征过程中，发现相同元素的峰，片状结构的峰比较尖锐，该怎么解释这个现象？. 见下图。. XPS峰的半峰宽与哪些因素有关？. Graph1.PNG 返回小木 ...
X射线光电子能谱是分析物质表面化学性质的一项技术。XPS可测量材料中元素组成、经验公式、元素化学态和电子态。用一束X射线激发固体表面，同时测量被分析材料表面1－10nm内发射出电子的动能，而得到XPS谱。
探测深度与材料及测试时的参数选择影响很大，总体来说，EDS与XRF测试固体时均可达微米级，XRF测液体时探测深度可达毫米级或更高。. 3 FTIR－ATR为红外反射光谱，探测深度与波长等因素有关，也是微米级别，但即使同一张谱图探测深度也会随波数变化。. 更多 ...
期刊 发现 社区 招聘老师 当前位置： 首页 > 晶体 > 有关XPS 的分析 有关XPS的分析 作者 664426chun 来源: 小木虫 500 10 举报帖子 +关注 最近做了一系列的样品，通过XPS的表征可以看出，同一种元素在不同样品中其对应的峰强度不同，请问XPS的峰强度与 ...
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