因为通讯作者写的导师,所以没有及时看到并回复,30号的时候发现那个链接已失效,点进去就说有错误,如图所示。我通过Springer的帮助服务发了求助,邮件说过段时间
详细分析器件充电模型引起电路损伤的失效机理,器件充电模型作为一个电荷驱动型,其电流方向主要是由电路内部向外部流动,其电流大、上升速度快,会对电路的栅极造成损伤。 【期刊名称】电子与封装 【
芯片剥层技术在集成电路失效分析中的应用 随着集成电路向多层结构方向的发展,对芯片进行失效方向必须解决多层结构下层的可观察性的可测试性。本文介绍了失效分
《集成电路可靠性分析与失效分析手册》:专家征集 各位专家们,经过一年左右的构思,我计划十一月份启动《集成电路可靠性分析与失效分析手册》撰写工作,书的主要内容包括:1,可靠性分
该期刊也涉及与集成电路设计直接相关的电路建模、技术、系统设计、布局和测试等主题。 该期刊的影响因子在2020年为5.7，属于电子与电气工程领域的Q1区期
本文就针对应用电子集成元器件技术失效设计原因分析展开讨论，从设计失效原因现象分析确认、样品材料制备与质量保存、电性性能分析和电子物理特性分析等等
做集成电路失效分析方面的论文投稿哪些期刊?下面小编推荐的两本刊物，以下是两本期刊的简单介绍。 《 电子测量与仪器学报 》是经国家科委批准，由中国科
【期刊名称】《集成电路应用》 【年(卷),期】2022(39)2 【摘要】阐述集成电路在检测过程的特点,造成集成电路失效的几种形式,探讨电参数特性分析、失效分析的流程,精准定位每
用TEM得到了清晰的分析结果，可以给客户和供应商提供更精准的信息，而这就是失效分析技术在半导体先进封装
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